Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN 50450-9-2003 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 9: Determination of oxygen, nitrogen, carbonmonoxide, carbondioxide, hydrogen and C1-C3-hydrocarbons in gaseous hydro Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение примесей в газах-носителях и газах-донорах - Часть 9: Определение кислорода, азота, оксида углерода, диоксида углерода, водорода и C1-C3-углеводородов в газообразном водороде

Название документа
DIN 50450-9-2003 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 9: Determination of oxygen, nitrogen, carbonmonoxide, carbondioxide, hydrogen and C1-C3-hydrocarbons in gaseous hydro Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение примесей в газах-носителях и газах-донорах - Часть 9: Определение кислорода, азота, оксида углерода, диоксида углерода, водорода и C1-C3-углеводородов в газообразном водороде
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN 50450-9-2003» касается испытания материалов для полупроводниковой технологии с акцентом на определение примесей в транспортных и легирующих газах. Он предназначен для использования в лабораторных условиях, где необходимо контролировать качество газов, применяемых в производственных процессах полупроводников. Стандарт описывает методики, позволяющие обеспечить точное и воспроизводимое измерение концентраций различных газов.

Ключевыми аспектами документа являются методы определения содержания кислорода, азота, угарного газа, углекислого газа, водорода и углеводородов от C1 до C3 в газах. В нем указаны параметры испытаний, такие как давление, температура и скорость потока газа, а также требования к оборудованию, необходимому для проведения анализа. Эти аспекты помогают обеспечить высокую точность тестирования и соответствие целевым показателям качества.

Документ также включает важные технические детали, например, условия испытаний и классификацию измеряемых величин. Для получения достоверных результатов установлены строгие требования к подготовке образцов и методам их анализа, что делает его важным ресурсом для профессионалов в области полупроводниковой технологии.

Целевой аудиторией стандарта являются производители полупроводниковых материалов, лаборатории, занимающиеся анализом газов, а также контролирующие органы, которым необходимо соблюдать стандарты безопасности и качества. Четкие и специфические требования обеспечивают высокую степень доверия к результатам измерений и помогут организациям в соблюдении международных норм.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность рабочих процессов, качество конечной продукции и охрану труда. Он способствует совместимости используемых материалов и технологий, что в свою очередь влияет на общую эффективность производства. Обновления и изменения в даном документе касаются уточнений методов анализа и требований к оборудованию, что улучшает его применимость в современных условиях.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN 50450-4-1993 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and dopant gases; determination of C1-C3-hydrocarbons in nitrogen by gas-chromatography Проверка материалов для полупроводниковой технологии; определение примесей в газах-носителях и газах-донорах; определение C1-C3-углеводородов в азоте методом газовой хроматографии PDF DIN 50450-3-1991 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of methane impurity in H2, O2, N2, Ar and He by using a flame ionization detector (FID) Проверка материалов для полупроводниковой технологии; определение примесей в газах-носителях и газах-донорах; определение примеси метана в H2, O2, N2, Ar и He с использованием детектора пламенного ионизации (FID) PDF DIN 50450-2-1991 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of oxygen impurity in N2, Ar, He, Ne and H2 by using a galvanic cell Проверка материалов для полупроводниковой технологии; определение примесей в газах-носителях и газах-донорах; определение примеси кислорода в N2, Ar, He, Ne и H2 с использованием гальванической ячейки PDF DIN 50450-9-2021 PDF DIN 50450-9 E-2020 PDF DIN 50451-1-2003 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 1: Silver (Ag), gold (Au), calcium (Ca), copper (Cu), iron (Fe), potassium (K) and sodium (Na) in nitric acid by AAS Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение следовых элементов в жидкостях - Часть 1: Серебро (Ag), золото (Au), кальций (Ca), медь (Cu), железо (Fe), калий (K) и натрий (Na) в азотной кислоте методом ААС