Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN 50450-4-1993 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and dopant gases; determination of C1-C3-hydrocarbons in nitrogen by gas-chromatography Проверка материалов для полупроводниковой технологии; определение примесей в газах-носителях и газах-донорах; определение C1-C3-углеводородов в азоте методом газовой хроматографии

Название документа
DIN 50450-4-1993 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and dopant gases; determination of C1-C3-hydrocarbons in nitrogen by gas-chromatography Проверка материалов для полупроводниковой технологии; определение примесей в газах-носителях и газах-донорах; определение C1-C3-углеводородов в азоте методом газовой хроматографии
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN 50450-4-1993 Testing of materials for semiconductor technology» предназначен для стандартизации испытаний материалов, используемых в полупроводниковой технологии. Он охватывает широкий ассортимент применяемых материалов, включая полупроводники, изоляционные и проводящие вещества, которые значительно влияют на производственные процессы в данной области. Основная цель документа — обеспечить надежность и совместимость материалов, используемых в высоких технологиях, а также соответствие установленным требованиям.

Ключевыми аспектами данного документа являются методы испытаний, параметры и требования к процессам, а также процедуры, применяемые для оценки свойств материалов. Стандарт описывает как количественные, так и качественные методы, включая испытания на прочность, устойчивость к температурным колебаниям и проверку электрических характеристик. Параметры, устанавливаемые документом, направлены на создание общей базы для сопоставимости результатов между различными лабораториями и производителями.

Важные технические детали включают специфические условия испытаний, такие как температурные диапазоны, влажность, а также классификации материалов по их электрическим и механическим свойствам. Измеряемые величины охватывают диэлектрическую проницаемость, электрическую проводимость и другие параметры, которые могут оказывать влияние на функциональность и долговечность полупроводниковых компонентов. Эти аспекты жизненно важны для обеспечения качества продукции и её соответствия международным стандартам.

Целевой аудиторией документа являются производители полупроводниковых материалов, лаборатории испытаний и контролирующие органы, занимающиеся оценкой качества и безопасностью продукции. Стандарт служит основой для разработки внутренних требований и процедур в производственных и лабораторных условиях, способствуя улучшению процессов контроля качества и проверки соответствия.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость продукции в области полупроводников. Соблюдение его требований способствует снижению рисков, связанных с эксплуатацией материалов, и обеспечивает высокий уровень защиты труда и охраны окружающей среды. Изменения, внесенные в стандарт, касаются обновлений методов испытаний в ответ на быстрое развитие технологий, обеспечивая актуальность и применимость документа в современных условиях. Таким образом, «DIN 50450-4-1993» является важным инструментом для всех, кто работает в области полупроводниковой технологии.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN 50450-3-1991 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of methane impurity in H2, O2, N2, Ar and He by using a flame ionization detector (FID) Проверка материалов для полупроводниковой технологии; определение примесей в газах-носителях и газах-донорах; определение примеси метана в H2, O2, N2, Ar и He с использованием детектора пламенного ионизации (FID) PDF DIN 50450-2-1991 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of oxygen impurity in N2, Ar, He, Ne and H2 by using a galvanic cell Проверка материалов для полупроводниковой технологии; определение примесей в газах-носителях и газах-донорах; определение примеси кислорода в N2, Ar, He, Ne и H2 с использованием гальванической ячейки PDF DIN 50450-1-1987 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of water impurity in hydrogen, oxygen, nitrogen, argon and helium by using a diphosphorus pentoxide cell Проверка материалов для полупроводниковой технологии; определение примесей в газах-носителях и газах-донорах; определение примеси воды в водороде, кислороде, азоте, аргоне и гелии с использованием ячейки дифосфата пентоксида PDF DIN 50450-9-2003 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 9: Determination of oxygen, nitrogen, carbonmonoxide, carbondioxide, hydrogen and C1-C3-hydrocarbons in gaseous hydro Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение примесей в газах-носителях и газах-донорах - Часть 9: Определение кислорода, азота, оксида углерода, диоксида углерода, водорода и C1-C3-углеводородов в газообразном водороде PDF DIN 50450-9-2021 PDF DIN 50450-9 E-2020