Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN 50450-3-1991 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of methane impurity in H2, O2, N2, Ar and He by using a flame ionization detector (FID) Проверка материалов для полупроводниковой технологии; определение примесей в газах-носителях и газах-донорах; определение примеси метана в H2, O2, N2, Ar и He с использованием детектора пламенного ионизации (FID)

Название документа
DIN 50450-3-1991 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of methane impurity in H2, O2, N2, Ar and He by using a flame ionization detector (FID) Проверка материалов для полупроводниковой технологии; определение примесей в газах-носителях и газах-донорах; определение примеси метана в H2, O2, N2, Ar и He с использованием детектора пламенного ионизации (FID)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN 50450-3-1991» посвящен испытаниям материалов, используемых в полупроводниковой технологии. Основное назначение стандарта заключается в обеспечении согласованности методов испытаний и оценке механических свойств материалов для полупроводников, что позволяет значительно повысить качество конечной продукции. Он применяется в основном на производствах, связанных с разработкой и производством полупроводниковых устройств и компонентов.

Стандарт регламентирует ключевые аспекты, такие как методы испытаний, требуемые параметры, а также условия, при которых осуществляются испытания. В документе подробно описаны различные механические испытания, включая растяжение, сжатие и изгиб, а также параметры, которые должны быть учтены, такие как температура, влажность и скорость загрузки. Также оговариваются требования к оборудованию и инструментам, используемым в процессе тестирования, что обеспечивает высокую точность результатов.

Среди важных технических деталей, упоминаемых в стандарте, стоит отметить классификации материалов по их механическим свойствам и обязательные методы измерения. Также документ включает требования к документации, которая должна сопровождать испытания, что важно для полной прослеживаемости и обеспечения соответствия. Это позволяет лабораториям и контролирующим органам уверенно интерпретировать результаты испытаний и обеспечивать их сохранность в отчетности.

Целевая аудитория данного стандарта охватывает производителей полупроводниковой продукции, научные лаборатории, а также контролирующие органы. Стандарт предоставляет необходимые инструменты для повышения качества средств измерения и испытаний. Это критически важно для устранения несоответствий и обеспечения надежности выпускаемой продукции, что, в свою очередь, способствует улучшению взаимосвязи между всеми участниками процессов разработки и производства.

Практическое значение «DIN 50450-3-1991» заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых продуктов. Соблюдение этого стандарта помогает минимизировать риски, связанные с использованием некачественных материалов, что может негативно сказаться на эксплуатационных характеристиках устройств. Кроме того, стандарт повышает совместимость различных компонентов, обеспечивая надежность и долговечность изделий. При наличии изменений или дополнений в документе они касаются улучшения методов испытаний и уточнения требований к используемому оборудованию.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN 50450-2-1991 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of oxygen impurity in N2, Ar, He, Ne and H2 by using a galvanic cell Проверка материалов для полупроводниковой технологии; определение примесей в газах-носителях и газах-донорах; определение примеси кислорода в N2, Ar, He, Ne и H2 с использованием гальванической ячейки PDF DIN 50450-1-1987 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of water impurity in hydrogen, oxygen, nitrogen, argon and helium by using a diphosphorus pentoxide cell Проверка материалов для полупроводниковой технологии; определение примесей в газах-носителях и газах-донорах; определение примеси воды в водороде, кислороде, азоте, аргоне и гелии с использованием ячейки дифосфата пентоксида PDF DIN 5044-2-1982 PDF DIN 50450-4-1993 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and dopant gases; determination of C1-C3-hydrocarbons in nitrogen by gas-chromatography Проверка материалов для полупроводниковой технологии; определение примесей в газах-носителях и газах-донорах; определение C1-C3-углеводородов в азоте методом газовой хроматографии PDF DIN 50450-9-2003 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 9: Determination of oxygen, nitrogen, carbonmonoxide, carbondioxide, hydrogen and C1-C3-hydrocarbons in gaseous hydro Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение примесей в газах-носителях и газах-донорах - Часть 9: Определение кислорода, азота, оксида углерода, диоксида углерода, водорода и C1-C3-углеводородов в газообразном водороде PDF DIN 50450-9-2021