496247944 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 60444-2-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units (IEC 60444-2:1980) Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в pi-сети - Часть 2: Метод смещения фазы для измерения мотивной емкости кварцевых кристаллов (IEC 60444-2:1980)

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
DIN EN 60444-2-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units (IEC 60444-2:1980) Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в pi-сети - Часть 2: Метод смещения фазы для измерения мотивной емкости кварцевых кристаллов (IEC 60444-2:1980)
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 60444-2-1997» описывает методику измерения параметров кристаллов кварца с использованием нулевой фазовой техники в π-сети, сосредотачиваясь на методе фаза-смещения для измерения движущейся ёмкости кристаллов кварца. Основное назначение документа заключается в предоставлении стандартизированных процедур измерения для производителей и исследовательских лабораторий, что улучшает сопоставимость результатов.

Ключевыми регламентируемыми аспектами являются методы измерения, параметры, такие как движущаяся ёмкость, и требования к испытаниям. Документ подробно описывает условия испытаний, включая частоты, на которых должны проводиться измерения, что является критически важным для обеспечения точности и достоверности результатов.

Технические детали, такие как условия околозначительной температуры и использование соответствующего оборудования, играют важную роль в получении валидных измерений. Измеряемые величины, включая амплитуду и фазу, указаны в стандарте, что помогает в дальнейшем анализе и интерпретации данных.

Целевая аудитория стандарта включает производителей кристаллов кварца, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, которые хотят соблюсти требования качества и безопасности. Этот стандарт представляет собой важный инструмент для повышения качества продукции и соблюдения международных норм.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость продукции, используемой в различных областях, от электроники до медицинских технологий. Изменения или дополнения к стандарту в данном документе были внесены для улучшения clarity и точности методов и процедур, позволяя лучше соответствовать современным требованиям и технологиям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 60444-2011 PDF DIN EN 60444-1-2000 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a ?-network - Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a ?-netw Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в ?-сети - Часть 1: Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в ?-сети PDF DIN EN 60442-2003 Electric toasters for household and similar purposes - Methods for measuring the performance (IEC 60442:1998 + A1:2003) Электрические тостеры для домашнего использования и похожих целей - Методы измерения производительности (IEC 60442:1998 + A1:2003) PDF DIN EN 60444-3-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with c Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в pi-сети - Часть 3: Основной метод измерения двух-terminal параметров кварцевых кристаллов до 200 МГц методом фазы в pi-сети с c PDF DIN EN 60444-4-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance RL and the calculation of other derived values of Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в pi-сети - Часть 4: Метод измерения частоты резонанса нагрузки fL, сопротивления резонанса нагрузки RL и вычисления других производных значений PDF DIN EN 60444-5-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 5: Methods for the determination of equivalent electrical parameters using automatic network analyser techniques and error correction (IEC 60444-5:1995) Измерение параметров кварцевых кристаллов - Часть 5: Методы определения эквивалентных электрических параметров с использованием автоматических методов анализа сетей и коррекции ошибок (IEC 60444-5:1995)