496247948 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 60444-4-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance RL and the calculation of other derived values of Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в pi-сети - Часть 4: Метод измерения частоты резонанса нагрузки fL, сопротивления резонанса нагрузки RL и вычисления других производных значений

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
DIN EN 60444-4-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance RL and the calculation of other derived values of Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в pi-сети - Часть 4: Метод измерения частоты резонанса нагрузки fL, сопротивления резонанса нагрузки RL и вычисления других производных значений
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 60444-4-1997» посвящён измерению параметров кварцевых резонаторов методом нулевой фазы в π-сети. Его основное назначение заключается в предоставлении методов, необходимых для точного определения частоты нагруженной резонансной частоты fL и сопротивления нагруженного резонанса RL. Этот стандарт применяется преимущественно производителями и лабораториями, занимающимися тестированием и контролем качества кварцевых кристаллов.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми документом, являются методы измерения, а также параметры, которые важно учитывать при оценке производительности резонаторов. Основное внимание уделяется точности и воспроизводимости результатов, что критично для обеспечения стабильности функционирования электронных устройств, в которых используются кварцевые кристаллы. Описанные в стандарте процедуры направлены на минимизацию влияния внешних факторов на результаты испытаний.

К важным техническим деталям относятся условия испытаний, которые требуют определённые температуры и влажность для достижения сопоставимых результатов. Также документ определяет классификации измеряемых величин, что позволяет стандартизировать подходы к тестированию. Эти нюансы обеспечивают высокую степень согласованности и доверия к получаемым значениям.

Целевая аудитория стандарта включает производителей кварцевых резонаторов, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, осуществляющие метрологический контроль. Понимание и применение данного документа способствует улучшению качества продукции и повышению уровня безопасности электронных систем. Кроме этого, правильное применение стандарта обеспечивает совместимость между различными производителями.

Практическое значение стандарта также заключается в его влиянии на безопасность, надёжность и качество конечной продукции. Стандарт помогает выявить проблемы, которые могут возникнуть в процессе производства, и направляет пользователей на необходимость оценивать соответствие своих изделий установленным требованиям. В обновлённой версии документа могут быть указаны изменения в методах измерения, что поможет адаптироваться к современным требованиям и технологиям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 60444-3-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with c Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в pi-сети - Часть 3: Основной метод измерения двух-terminal параметров кварцевых кристаллов до 200 МГц методом фазы в pi-сети с c PDF DIN EN 60444-2-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units (IEC 60444-2:1980) Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в pi-сети - Часть 2: Метод смещения фазы для измерения мотивной емкости кварцевых кристаллов (IEC 60444-2:1980) PDF DIN EN 60444-2011 PDF DIN EN 60444-5-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 5: Methods for the determination of equivalent electrical parameters using automatic network analyser techniques and error correction (IEC 60444-5:1995) Измерение параметров кварцевых кристаллов - Часть 5: Методы определения эквивалентных электрических параметров с использованием автоматических методов анализа сетей и коррекции ошибок (IEC 60444-5:1995) PDF DIN EN 60444-6-1997 PDF DIN EN 60444-6-2014 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (IEC 60444-6:2013) Измерение параметров кварцевых кристаллов - Часть 6: Измерение зависимости уровня ввода (DLD) (IEC 60444-6:2013)