Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
DIN EN 60444-6-1997
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ DIN EN 60444-6-1997 устанавливает требования и методы измерения для оценки параметров, связанных с участками машин и электрооборудования. Его основное назначение заключается в обеспечении единообразия в процедурах тестирования, что способствует улучшению качества и безопасности изделий в соответствующей области. Стандарт применяется в различных сферах, включая электронику, механику и телекоммуникации, где необходима высокая степень надежности и точности.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми документом, являются методы испытаний, контрольные параметры и требования к измерению. Стандарт описывает условия, при которых проводятся тесты, и параметры, которые должны контролироваться, включая стабильность и повторяемость получаемых результатов. Также в документе указаны основные методы и процедуры, которые должны использоваться при проведении испытаний.
Технические детали, приведенные в стандарте, охватывают условия испытаний, такие как температура, влажность и другие факторы, влияющие на результаты. Классификации измеряемых величин определяют, какие именно параметры подлежат оценке в различных условиях работы. Это дает возможность целенаправленно проводить тесты и получать результаты, которые имеют практическое значение для оценки изделий.
Целевая аудитория документа включает производителей, испытательные лаборатории и контролирующие органы, заинтересованные в соблюдении установленных норм и стандартов. Стандарт служит основным ориентиром для организации контроля качества продукции и обеспечению ее безопасности. Это особенно важно для организаций, которые стремятся к внедрению систем управления качеством на своем производстве.
Практическое значение стандарта manifestируется в его влиянии на безопасность изделий, качество производственных процессов и охрану труда. Строгое соблюдение его требований помогает минимизировать риски, связанные с эксплуатацией электрооборудования, и обеспечивает совместимость различных устройств и систем. Среди изменений, внесенных в стандарт, стоит отметить уточнения в методах испытаний и адаптацию к современным технологиям, что делает его актуальным для текущих условий работы в промышленности.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
Возможно вас заинтересуют
DIN EN 60444-5-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 5: Methods for the determination of equivalent electrical parameters using automatic network analyser techniques and error correction (IEC 60444-5:1995)
Измерение параметров кварцевых кристаллов - Часть 5: Методы определения эквивалентных электрических параметров с использованием автоматических методов анализа сетей и коррекции ошибок (IEC 60444-5:1995)
DIN EN 60444-4-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance RL and the calculation of other derived values of
Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в pi-сети - Часть 4: Метод измерения частоты резонанса нагрузки fL, сопротивления резонанса нагрузки RL и вычисления других производных значений
DIN EN 60444-3-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with c
Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в pi-сети - Часть 3: Основной метод измерения двух-terminal параметров кварцевых кристаллов до 200 МГц методом фазы в pi-сети с c
DIN EN 60444-6-2014 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (IEC 60444-6:2013)
Измерение параметров кварцевых кристаллов - Часть 6: Измерение зависимости уровня ввода (DLD) (IEC 60444-6:2013)
DIN EN 60444-7-2004 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units (IEC 60444-7:2004)
Измерение параметров кварцевых кристаллов - Часть 7: Измерение активности и частотных провалов кварцевых кристаллов (IEC 60444-7:2004)
DIN EN 60444-8-2004 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units (IEC 60444-8:2003)
Измерение параметров кварцевых кристаллов - Часть 8: Приспособление для тестирования поверхностно установленных кварцевых кристаллов (IEC 60444-8:2003)