Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
DIN EN 60444-6-2014 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (IEC 60444-6:2013) Измерение параметров кварцевых кристаллов - Часть 6: Измерение зависимости уровня ввода (DLD) (IEC 60444-6:2013)
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «DIN EN 60444-6-2014» определяет методы измерения параметров пьезоэлектрических кристаллов, с акцентом на зависимость уровня возбуждения (DLD). Основное назначение стандарта заключается в установлении единых требований для оценки влияния уровня возбуждения на электрические характеристики кристаллов. Этот стандарт применяется в производственных процессах и научных исследованиях, где используются кварцевые резонаторы.
Ключевыми регламентируемыми аспектами стандарта являются методы измерения, параметры, которые подлежат оценке, а также требования к их проведению. В документе подробно описаны процедуры тестирования, включая условия, при которых необходимо проводить измерения. Также указаны значения, такие как частота и эквивалентные цепи кристаллов, которые воздействуют на результаты испытаний.
Важные технические детали касаются условий испытаний, таких как температура, влажность и длительность, которые могут значительно повлиять на результаты измерений. Применяемые классификации кристаллов и измеряемые величины обеспечивают возможность точной интерпретации данных. Стандарт также указывает на необходимость использования минимально необходимых уровней возбуждения для разных типов кристаллов.
Целевая аудитория документа включает производители кварцевых резонаторов, аккредитованные лаборатории и контролирующие органы. Эти группы должны строго следовать протоколам, описанным в стандарте, чтобы обеспечить соответствие и качество продукции. Ознакомление с документом поможет избежать недоразумений в процессе сертификации и производственной деятельности.
Практическое значение стандарта связано с улучшением безопасности и качества производимых компонентов. Стандарт способствует повышению уровня совместимости устройств, использующих кварцевые кристаллы, что критично для многих электроники и высокоточных измерительных приборов. Изменения и дополнения к стандарту могут касаться уточнений в процедурах тестирования и нововведений в измерительных методах, что позволяет более точно оценивать характеристики кристаллов в современных условиях.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
Возможно вас заинтересуют
DIN EN 60444-6-1997
DIN EN 60444-5-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 5: Methods for the determination of equivalent electrical parameters using automatic network analyser techniques and error correction (IEC 60444-5:1995)
Измерение параметров кварцевых кристаллов - Часть 5: Методы определения эквивалентных электрических параметров с использованием автоматических методов анализа сетей и коррекции ошибок (IEC 60444-5:1995)
DIN EN 60444-4-1997 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance RL and the calculation of other derived values of
Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в pi-сети - Часть 4: Метод измерения частоты резонанса нагрузки fL, сопротивления резонанса нагрузки RL и вычисления других производных значений
DIN EN 60444-7-2004 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units (IEC 60444-7:2004)
Измерение параметров кварцевых кристаллов - Часть 7: Измерение активности и частотных провалов кварцевых кристаллов (IEC 60444-7:2004)
DIN EN 60444-8-2004 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units (IEC 60444-8:2003)
Измерение параметров кварцевых кристаллов - Часть 8: Приспособление для тестирования поверхностно установленных кварцевых кристаллов (IEC 60444-8:2003)
DIN EN 60444-8-2017 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units (IEC 60444-8:2016); German version EN 60444-8:2017
Измерение параметров кварцевых кристаллов - Часть 8: Приспособление для тестирования поверхностно установленных кварцевых кристаллов (IEC 60444-8:2016); немецкая версия EN 60444-8:2017