Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
DIN EN 60749-13-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 13: Сольная атмосфера (IEC 60749-13:2002)
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «DIN EN 60749-13-2003» предназначен для описания методов механических и климатических испытаний полупроводниковых устройств. Он оформляет стандарты относительно испытаний на воздействие соляного тумана, что является важным аспектом для определения долговечности и надежности компонентов в агрессивной среде. Данный документ актуален для производственных процессов и научных исследований, связанных с полупроводниковыми устройствами.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми в данном стандарте, являются методы проведения испытаний, параметры соляного тумана, а также требования к состоянию образцов и условиям испытаний. Документ детализирует необходимые этапы тестирования, что включает в себя подготовку образцов, установку оборудования и мониторинг условий окружающей среды во время испытаний. Эти процессы обеспечивают стандартизацию и репродукцию результатов.
Важно отметить, что в документе представлены технические детали, такие как классификация образцов, измеряемые величины и периодичность испытаний. Стандарт также определяет предельные значения для коррозийного воздействия и специфицирует методы контроля и анализа полученных данных. Четкое формулирование данных аспектов способствует повышению надежности испытаний и сравнимости результатов между различными лабораториями.
Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, специализированные лаборатории испытаний, а также контролирующие органы, ответственные за качество и безопасность компонентов. Стандарт обеспечивает необходимую базу для соблюдения национальных и международных норм, что способствует формированию доверия к продуктам на рынке.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых устройств, а также на условия труда при их производстве. Стандарт помогает идентифицировать потенциальные риски и минимизировать их воздействие, что в свою очередь гарантирует совместимость устройств в различных условиях эксплуатации. В стандарт были внесены изменения, касающиеся методов проведения испытаний, что направлено на упрощение процесса и улучшение качества получаемых данных.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»