Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
DIN EN 60749-13 E-2017
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «DIN EN 60749-13 E-2017» представляет собой стандарт, предназначенный для определения методов оценки надежности полупроводниковых устройств при воздействии атмосферных условий. Основная цель стандарта — предоставление четких и однозначных требований к испытаниям, позволяющим оценить степень защиты компонентов от влаги, пыли и других агрессивных факторов внешней среды.
Стандарт регламентирует методы испытаний, параметры окружающей среды и условия, при которых проводятся испытания. В частности, он описывает процедуры оценки степени воздействия внешней среды и тестирования на устойчивость к коррозии и другим физическим факторам. Кроме того, в нем прописаны необходимые требования к классификации и измерению степени защиты, используя соответствующие ГОСТы и методики.
Важные технические детали, указанные в стандарте, касаются условий испытаний, таких как температура, влажность и продолжительность воздействия неблагоприятных факторов. Эти параметры имеют решающее значение при оценке долговечности компонентов. Кроме того, документ охватывает классификацию результатов испытаний и нормы по допустимым пределам, которые следует учитывать для достижения требуемого качества и надежности изделий.
Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, научно-исследовательские лаборатории и контролирующие органы. Данный стандарт предназначен для специалистов, занимающихся разработкой, производством и контролем качества электроники, что подкрепляет его важность в области стандартизации и обеспечения качества продукции.
Практическое значение стандарта «DIN EN 60749-13 E-2017» заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость электроники. Соблюдение требований данного документа позволяет минимизировать риск сбоев в работе устройств и дает возможность обеспечить их надлежащую эксплуатацию в различных условиях. Изменения, внесенные в данный стандарт, акцентируют внимание на усовершенствованных методах испытаний и требованиях, отражающих текущие тренды в области технологий защиты.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
Возможно вас заинтересуют
DIN EN 60749-13-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002)
Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 13: Сольная атмосфера (IEC 60749-13:2002)
DIN EN 60749 E-2017
DIN EN 60749-2003
DIN EN 60749-14-2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) (IEC 60749-14:2003)
Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 14: Устойчивость соединений (целостность выводов) (IEC 60749-14:2003)
DIN EN 60749-15-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (IEC 60749-15:2010)
Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 15: Устойчивость к температуре пайки для устройств с выводами (IEC 60749-15:2010)
DIN EN 60749-16-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) (IEC 60749-16:2003)
Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 16: Обнаружение шумов от частиц (PIND) (IEC 60749-16:2003)