496249070 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 60749-9-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2017); German version EN 60749-9:2017 Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 9: Надежность маркировки (IEC 60749-9:2017); немецкая версия EN 60749-9:2017

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
DIN EN 60749-9-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2017); German version EN 60749-9:2017 Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 9: Надежность маркировки (IEC 60749-9:2017); немецкая версия EN 60749-9:2017
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Данный документ «DIN EN 60749-9-2017» устанавливает методы механических и климатических тестов для полупроводниковых устройств, с акцентом на долговечность маркировки. Он применяется в производстве и контроле качества полупроводников, заданного для обеспечения надежности устройств в условиях эксплуатации. Стандарт включает в себя требования к маркировке, которые обеспечивают ее сохранность в различных условиях воздействия.

Ключевыми аспектами документа являются определенные методы испытаний, параметры оценки и регламентированные процедуры, касающиеся долговечности маркировки. Среди них выделяются воздействия механического характера, такие как трение и истирание, а также климатические факторы, включая влажность и температурные колебания. Все эти испытания направлены на проверку устойчивости маркировки к разрушению в условиях, характерных для функционирования полупроводниковых устройств.

Особое внимание в стандарте уделяется условиям испытаний, включая выбор климатических уровней, продолжительность тестирования и спецификацию измеряемых величин. Это важно для стандартизации процессов проверки, позволяя сравнивать результаты между различными производителями и лабораториями. Классификации результатов тестирования также строго регламентированы, что предоставляет необходимость в точных измерениях и оценках.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводников, аккредитованные лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и обеспечением качества. Важно, что документ ориентирован на профессионалов в области электроники и материаловедения, предоставляя четкие указания по проведению испытаний и интерпретации результатов.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и долговечность полупроводниковых устройств. Соблюдение требований документа способствует повышению надежности и долговечности маркировки, что, в свою очередь, влияет на общую безопасность и эффективность устройств. Кроме того, стандарт учитывает последние изменения в области технологий, обеспечивая актуальность и соответствие современным требованиям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 60749-9-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 9: Надежность маркировки (IEC 60749-9:2002) PDF DIN EN 60749-8-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing (IEC 60749-8:2002 + Corr. 1:2003 + Corr. 2:2003) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 8: Закрытие (IEC 60749-8:2002 + Corr. 1:2003 + Corr. 2:2003) PDF DIN EN 60749-7-2012 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2011) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 7: Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов (IEC 60749-7:2011) PDF DIN EN 60749-9 E-2016 PDF DIN EN 6075-2017 Aerospace series - Static seal elements O-Ring ethylene-propylene, moulded, phosphate ester resistant (- 55 °C to 107 °C) - Inch series Аэрокосмическая серия - Статические уплотнительные элементы O-Ring этилен-пропиленовые, литые, устойчивые к фосфатным эфиром (- 55 °C до 107 °C) - Серия дюймов PDF DIN EN 6075 E-2017