Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 62047-21 E-2012

Название документа
DIN EN 62047-21 E-2012
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 62047-21 E-2012» представляет собой стандарт, который регламентирует методы испытаний и измерений для компонентов, использующихся в сенсорных системах. Этот стандарт предназначен для разработчиков и производителей отечественной и зарубежной электроники, обеспечивая высокие требования к качеству и безопасности продукции в данной области.

Ключевыми аспектами документа являются спецификации методов характеристики сенсоров, а также параметры, касающиеся их работы в различных условиях. Стандарт определяет процедуры, которые должны соблюдаться при испытаниях, и описывает необходимые инструменты и устройства для корректного проведения измерений, что гарантирует точность результатов.

Важные технические детали включают описание условий испытаний, таких как температура, влажность и другие факторы окружающей среды, которые могут влиять на характеристики сенсоров. Также документ включает классификации сенсоров и измеряемые величины, что позволяет лучше понимать их функциональные возможности и ограничения в различных приложениях.

Целевая аудитория стандарта охватывает производителей сенсоров, научные лаборатории, а также контролирующие органы, которые занимаются сертификацией и оценкой соответствия продукции. Данный стандарт обеспечивает производителям необходимые ориентиры для разработки и проверки их продукции, а контролирующим органам — базу для оценки соответствия стандартам качества и безопасности.

Практическое значение «DIN EN 62047-21 E-2012» заключается в том, что он способствует повышению уровня безопасности и качества сенсорных систем, что, в свою очередь, влияет на общую безопасность технологических процессов. Стандарт также учитывает аспекты охраны труда, что всегда имеет первоочередное значение в производственной среде. При наличии обновлений или изменений, стандарт предлагает адаптацию к новым технологическим требованиям и достижениям, что позволяет поддерживать актуальность и неизменный уровень качества.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 62047-21-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials (IEC 62047-21:2014) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 21: Метод испытаний для определения коэффициента Пуассона тонких пленок материалов MEMS (IEC 62047-21:2014) PDF DIN EN 62047-20 E-2012 PDF DIN EN 62047-20-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 20: Gyroscopes (IEC 62047-20:2014); German version EN 62047-20:2014 Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 20: Гироскопы (IEC 62047-20:2014); немецкая версия EN 62047-20:2014 PDF DIN EN 62047-22-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 62047-22:2014) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 22: Метод испытания электромеханического растяжения тонких проводящих пленок на гибких субстратах (IEC 62047-22:2014) PDF DIN EN 62047-22 E-2012 PDF DIN EN 62047-25-2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area (IEC 62047-25:2016) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 25: Технология изготовления МЭМС на основе кремния - Метод измерения сжато-растягивающей и сдвиговой прочности микроплощади соединения (IEC 62047-25:2016)