Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 62047-25 E-2014

Название документа
DIN EN 62047-25 E-2014
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 62047-25 E-2014» представляет собой стандарт, касающийся технологий, применяемых в области микроэлектроники и наноэлектроники. Основное назначение стандарта заключается в определении методов и параметров, необходимых для испытания и характеристики различных компонентов, включая сенсоры и устройства, использующие MEMS-технологии. Стандарт служит ориентиром для производителей, лабораторий и регулирующих органов, стремящихся обеспечить соответствие продукции современным требованиям качества и безопасности.

Ключевыми аспектами данного документа являются регламентированные методы испытаний, установленные измерительные величины и параметры, а также требования к окружению и оборудованию, используемым в процессе тестирования. Он описывает основные процедуры, включая условия испытаний, такие как температура, влажность и другие факторы, способные влиять на результаты исследований. Важно отметить, что многие из указанных методов могут варьироваться в зависимости от специфики тестируемых устройств и применяемых технологий.

Специальные технические детали, затрагиваемые в документе, включают классификацию компонентов по различным критериям, а также описание измерительных приборах, предназначенных для получения надежных и воспроизводимых результатов. Стандарт акцентирует внимание на необходимости использования утвержденных методов для снижения рисков, связанных с ошибками в тестировании, и на важности точного контроля условий испытаний для получения объективных данных.

Целевой аудиторией стандарта являются как производители микросистемных устройств, так и лаборатории, занимающиеся их тестированием. Кроме того, документ будет полезен контролирующим органам, которые обеспечивают соблюдение стандартов безопасности и качества на рынке. Наличие четких регламентов и стандартов, таких как «DIN EN 62047-25 E-2014», способствует повышению уровня доверия к продукции в области микроэлектроники.

Практическое значение данного стандарта заключается в его вкладе в обеспечение безопасности и качества продукции, а также в улучшении рабочих условий при проведении испытаний. Стандарт способствует унификации методов тестирования, что, в свою очередь, обеспечивает возможность обеспечивать совместимость компонентов различных производителей. Появление изменений или дополнений в стандарте может влиять на существующую практику и требует от специалистов своевременного обновления знаний и практических навыков.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 62047-25-2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area (IEC 62047-25:2016) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 25: Технология изготовления МЭМС на основе кремния - Метод измерения сжато-растягивающей и сдвиговой прочности микроплощади соединения (IEC 62047-25:2016) PDF DIN EN 62047-22 E-2012 PDF DIN EN 62047-22-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 62047-22:2014) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 22: Метод испытания электромеханического растяжения тонких проводящих пленок на гибких субстратах (IEC 62047-22:2014) PDF DIN EN 62047-26-2016 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures (IEC 62047-26:2016) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 26: Описание и методы измерения микротраншей и игл (IEC 62047-26:2016) PDF DIN EN 62047-26 E-2014 PDF DIN EN 62047-27 E-2015