816825041 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM E1162-2011 (R 2019) Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) (R 2019) Стандартная практика представления данных профиля глубины распыления в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
ASTM E1162-2011 (R 2019) Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) (R 2019) Стандартная практика представления данных профиля глубины распыления в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ ASTM E1162 представляет собой стандартную практику, предназначенную для отчетности данных профиля глубины распыления в методе масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS). Основное назначение данного стандарта заключается в установлении единых требований к представлению и интерпретации данных, получаемых при анализе материалов с использованием метода SIMS, что позволяет обеспечить сопоставимость и достоверность результатов между различными лабораториями и исследованиями.

Стандарт регламентирует ключевые аспекты, такие как методы получения профилей глубины, параметры анализа, требования к калибровке и условиям испытаний. В частности, он описывает процедуры, которые должны быть соблюдены для обеспечения точности и повторяемости измерений, включая выбор и подготовку образцов, а также использование стандартных образцов для калибровки оборудования.

Важные технические детали, указанные в стандарте, включают условия испытаний, такие как давление в камере, тип используемого ионного источника и настройки масс-спектрометра. Также описываются измеряемые величины, включая концентрацию элементов на различных глубинах и профили распределения, что позволяет исследовать структуру и состав материалов на наноуровне.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей, научные лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся оценкой качества и безопасности материалов. Стандарт служит важным инструментом для специалистов, работающих в области материаловедения, аналитической химии и микроэлектроники, обеспечивая единые подходы к анализу и интерпретации данных.

Практическое значение ASTM E1162 заключается в повышении качества и безопасности материалов, используемых в различных отраслях, таких как электроника, фармацевтика и нанотехнологии. Стандарт способствует улучшению охраны труда и совместимости материалов, так как точные данные о составе и структуре позволяют избежать потенциальных рисков, связанных с использованием некачественных или несовместимых компонентов.

В последние годы в стандарт были внесены изменения, касающиеся уточнения методов калибровки и более детального описания процедур анализа. Эти дополнения направлены на улучшение понимания и применения стандартной практики в современных условиях, что позволяет обеспечить более высокую степень надежности и воспроизводимости получаемых данных.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»