Картотека документов
Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ASTM F1189-1988 STANDARD TEST METHOD FOR USING COMPUTER-ASSISTED INFRARED SPECTROPHOTOMETRY TO MEASURE THE INTERSTITIAL OXYGEN CONTENT OF SILICON SLICES POLISHED ON BOTH SIDES
Название документа
ASTM F1189-1988 STANDARD TEST METHOD FOR USING COMPUTER-ASSISTED INFRARED SPECTROPHOTOMETRY TO MEASURE THE INTERSTITIAL OXYGEN CONTENT OF SILICON SLICES POLISHED ON BOTH SIDES
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
ASTM F1188-2002 Standard Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption with Short Baseline
ASTM F1187-1991 Standard Specification for Fixed Wing Specialized Medical Transport Units
ASTM F1186-2018 Standard Classification System for Chemicals According to Functional Groups
ASTM F119-1982 Standard Test Method for Rate of Grease Penetration of Flexible Barrier Materials (Rapid Method)
ASTM F1190-2018 Standard Guide for Neutron Irradiation of Unbiased Electronic Components
ASTM F1191-1988 STANDARD GUIDE FOR THE RADIATION TESTING OF SEMICONDUCTOR MEMORIES