Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F1190-2018 Standard Guide for Neutron Irradiation of Unbiased Electronic Components Стандартное руководство для облучения нейтронами неполяризованных электронных компонентов

Название документа
ASTM F1190-2018 Standard Guide for Neutron Irradiation of Unbiased Electronic Components Стандартное руководство для облучения нейтронами неполяризованных электронных компонентов
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ASTM F1190-2018 Standard Guide for Neutron Irradiation of Unbiased Electronic Components» представляет собой стандартный гид, который определяет методы и процедуры для нейтронного облучения неуправляемых электронных компонентов. Основное назначение данного документа заключается в обеспечении согласованного подхода к испытаниям электронных устройств, подверженных нейтронному облучению, что имеет важное значение для разработки и оценки надежности этих компонентов в условиях, связанных с радиационным воздействием.

Стандарт регламентирует ключевые аспекты, такие как методы облучения, параметры испытаний, а также требования к оборудованию и условиям проведения экспериментов. В частности, документ описывает различные режимы облучения, включая характеристики нейтронных источников, дозы облучения и временные интервалы, что позволяет обеспечить воспроизводимость и сопоставимость результатов испытаний.

Важные технические детали включают рекомендации по измеряемым величинам, таким как изменение электрических характеристик компонентов, а также методы анализа полученных данных. Стандарт также обращает внимание на необходимость проведения контрольных испытаний для оценки воздействия нейтронного облучения на материалы и конструкции, из которых изготовлены электронные компоненты.

Целевая аудитория документа включает производителей электронных компонентов, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, занимающиеся вопросами безопасности и надежности продукции. Стандарт служит важным инструментом для специалистов, работающих в области ядерной энергетики, аэрокосмической отрасли и других областях, где компоненты подвергаются радиационным воздействиям.

Практическое значение стандарта заключается в повышении уровня безопасности и качества электронных компонентов, что в свою очередь влияет на их долговечность и эксплуатационные характеристики. Соблюдение рекомендаций стандарта способствует улучшению охраны труда и совместимости изделий, что является критически важным в высокотехнологичных и ответственных приложениях.

В версии 2018 года документа были внесены изменения, касающиеся уточнения методов измерения и анализа данных, что позволяет более точно оценивать влияние нейтронного облучения на характеристики электронных компонентов. Эти дополнения направлены на повышение надежности и актуальности стандартных процедур в условиях быстро развивающихся технологий.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF ASTM F119-1982 Standard Test Method for Rate of Grease Penetration of Flexible Barrier Materials (Rapid Method) Стандартный метод испытаний для скорости проникновения смазки в гибкие барьерные материалы (быстрый метод) PDF ASTM F1189-1988 STANDARD TEST METHOD FOR USING COMPUTER-ASSISTED INFRARED SPECTROPHOTOMETRY TO MEASURE THE INTERSTITIAL OXYGEN CONTENT OF SILICON SLICES POLISHED ON BOTH SIDES СТАНДАРТНЫЙ МЕТОД ТЕСТИРОВАНИЯ ДЛЯ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ КОМПЬЮТЕРНО-ПОМОЩИ В ИНФРАКРАСНОЙ СПЕКТРОФОТОМЕТРИИ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СОДЕРЖАНИЯ ВЗВЕШЕННОГО КИСЛОРОДА В КРЕСТОВИНАХ СИЛИЦИЯ, ОБРАБОТАННЫХ С ОБЕИХ СТОРОН PDF ASTM F1188-2002 Standard Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption with Short Baseline Стандартный метод испытаний для содержания интерстициального атомного кислорода кремния с использованием инфракрасного поглощения с короткой базой PDF ASTM F1191-1988 STANDARD GUIDE FOR THE RADIATION TESTING OF SEMICONDUCTOR MEMORIES РУКОВОДСТВО ПО ИСПЫТАНИЮ НА ИЗЛУЧЕНИЕ ПОМЕМБРНЫХ СЕМКОНДУКТОРНЫХ ПАМЯТИ PDF ASTM F1192-2011 Standard guide for the measurement of single event phenomena (SEP) induced by heavy ion irradiation of semiconductor devices Стандартное руководство для измерения одиночных событий (SEP), вызванных тяжелым ионным облучением полупроводниковых устройств PDF ASTM F1193-2022 Standard Practice for Quality, Manufacture, and Construction of Amusement Rides and Devices Стандартная практика для качества, изготовления и строительства аттракционов и устройств