Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F1389-2000 Standard Test Methods for Photoluminescence Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities Методы испытаний стандарта для анализа фотолюминесценции монокристаллического кремния на предмет примесей III-V

Название документа
ASTM F1389-2000 Standard Test Methods for Photoluminescence Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities Методы испытаний стандарта для анализа фотолюминесценции монокристаллического кремния на предмет примесей III-V
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ ASTM F1389-2000 представляет собой стандартные методы испытаний для фотолюминесцентного анализа монокристаллического кремния, направленные на определение примесей III-V группы. Основное назначение данного стандарта заключается в обеспечении единообразных и надежных процедур для оценки качества кремниевых материалов, используемых в полупроводниковой промышленности. Этот стандарт применяется в лабораториях, занимающихся исследованием полупроводников, а также в производственных процессах, где требуется контроль чистоты материалов.

Стандарт описывает методы фотолюминесцентного анализа, включая параметры, такие как длина волны возбуждения, температура образца и условия измерений. В документе также регламентируются требования к оборудованию и калибровке, что обеспечивает точность и воспроизводимость результатов. Ключевыми аспектами являются процедуры подготовки образцов, а также способы интерпретации полученных данных для выявления наличия и концентрации примесей.

Технические детали, указанные в стандарте, включают описание условий испытаний, таких как необходимость поддержания определенной температуры и давления, а также использование специализированных приборов для измерения фотолюминесценции. Кроме того, документ охватывает классификацию примесей и методики их количественного анализа, что позволяет исследователям эффективно идентифицировать и оценивать уровень загрязнений в монокристаллическом кремнии.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых материалов, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и качественным контролем. Стандарт служит важным инструментом для специалистов, работающих в области полупроводников, обеспечивая им необходимые методические рекомендации для выполнения высококачественных анализов.

Практическое значение ASTM F1389-2000 заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на охрану труда в процессе производства. Применение данного стандарта способствует улучшению совместимости материалов, что, в свою очередь, положительно сказывается на надежности и долговечности конечных изделий. В последующих редакциях документа были внесены изменения, направленные на уточнение методик и улучшение точности измерений, что отражает текущие тенденции и достижения в области фотолюминесцентного анализа.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF ASTM F1388-1992 (R 2000) Standard Test Method for Generation Lifetime and Generation Velocity of Silicon Material by Capacitance-Time Measurements of Metal-Oxide-Silicon (MOS) Capacitors Метод испытаний стандарта для определения времени жизни и скорости генерации кремниевых материалов с помощью измерений емкость-время металлооксидного кремниевого (MOS) конденсатора PDF ASTM F1387-19 PDF ASTM F1386-1992 (R 2021) Standard Guide for Construction of Sounding Tube and Striker Plate for Tank Sounding Руководство стандарта по строительству звукового трубки и ударной пластины для измерения уровня жидкости в резервуаре PDF ASTM F139-19 PDF ASTM F1390-2002 Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning Метод испытаний стандарта для измерения искривления на кремниевых пластинах с помощью автоматического бесконтактного сканирования PDF ASTM F1391-1993 (R 2000) Standard Test Method for Substitutional Atomic Carbon Content of Silicon by Infrared Absorption Метод испытаний стандарта для определения содержания атомарного углерода в кремнии с помощью инфракрасного поглощения