Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F1527-2002 Standard Guide for Application of Certified Reference Materials and Reference Wafers for Calibration and Control of Instruments for Measuring Resistivity of Silicon Стандартное руководство по применению сертифицированных эталонных материалов и эталонных пластинок для калибровки и контроля приборов для измерения удельного сопротивления кремния

Название документа
ASTM F1527-2002 Standard Guide for Application of Certified Reference Materials and Reference Wafers for Calibration and Control of Instruments for Measuring Resistivity of Silicon Стандартное руководство по применению сертифицированных эталонных материалов и эталонных пластинок для калибровки и контроля приборов для измерения удельного сопротивления кремния
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ASTM F1527-2002» представляет собой стандартное руководство, посвящённое применению сертифицированных эталонных материалов и эталонных пластин для калибровки и контроля инструментов, предназначенных для измерения сопротивления кремния. Основное назначение данного стандарта заключается в обеспечении точности и надёжности измерений, что является критически важным в таких областях, как полупроводниковая промышленность, научные исследования и контроль качества.

Стандарт регламентирует методы калибровки, параметры измерений и требования к эталонным материалам, используемым для проверки инструментов. В частности, он описывает процедуры, которые необходимо соблюдать для обеспечения корректности измерений сопротивления, включая условия испытаний, такие как температура и влажность, а также спецификации на используемые эталонные пластины и материалы.

Ключевыми аспектами стандарта являются классификация эталонных материалов по их электрическим свойствам и точность измерений, которые должны соответствовать установленным нормам. Стандарт также охватывает методы валидации инструментов, что позволяет пользователям уверенно интерпретировать результаты измерений и проводить сравнительный анализ с эталонными значениями.

Целевая аудитория данного документа включает производителей полупроводниковых устройств, лаборатории, занимающиеся тестированием и контролем качества, а также регулирующие органы, ответственные за стандартизацию и сертификацию продукции. Стандарт служит важным инструментом для обеспечения соответствия продукции современным требованиям и стандартам качества.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на охрану труда в производственных условиях. Применение данного руководства способствует повышению совместимости различных измерительных систем и улучшению общей эффективности процессов контроля качества. Изменения и дополнения к стандарту, внесённые после его первоначальной публикации, касаются уточнения методов калибровки и расширения перечня рекомендуемых эталонных материалов, что позволяет адаптировать стандарт к современным требованиям индустрии.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF ASTM F1526-1995 (R 2000) Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination on Silicon Wafers by Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy Стандартный метод испытаний для измерения поверхностного металлического загрязнения на кремниевых пластинах методом полного отражения рентгеновской флуоресцентной спектроскопии PDF ASTM F1525-F1525M-2009 PDF ASTM F1524-2022 Standard Guide for Use of Advanced Oxidation Process for the Mitigation of Chemical Spills Стандартное руководство по использованию процесса продвинутой окислительной обработки для устранения химических утечек PDF ASTM F1528-1994 (R 1999) Standard Test Method for Measuring Boron Contamination in Heavily Doped N-Type Silicon Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry Стандартный метод испытаний для измерения загрязнения бором в тяжеловошенных N-типовых подложках из кремния методом вторичного ионного масс-спектрометрирования PDF ASTM F1529-2002 Standard Test Method for Sheet Resistance Uniformity Evaluation by In-Line Four-Point Probe with the Dual-Configuration Procedure Стандартный метод испытаний для оценки однородности сопротивления листа с помощью четырехточечного метода в линии с двойной конфигурацией PDF ASTM F153-1995 Standard Test Method for Determining the Yield of Wide Inked Computer Ribbons Стандартный метод испытаний для определения выхода широких компьютерных лент с чернилами