Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F1529-2002 Standard Test Method for Sheet Resistance Uniformity Evaluation by In-Line Four-Point Probe with the Dual-Configuration Procedure Стандартный метод испытаний для оценки однородности сопротивления листа с помощью четырехточечного метода в линии с двойной конфигурацией

Название документа
ASTM F1529-2002 Standard Test Method for Sheet Resistance Uniformity Evaluation by In-Line Four-Point Probe with the Dual-Configuration Procedure Стандартный метод испытаний для оценки однородности сопротивления листа с помощью четырехточечного метода в линии с двойной конфигурацией
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ ASTM F1529-2002 представляет собой стандартный метод испытаний, предназначенный для оценки однородности сопротивления пленок с использованием инлайн-пробы в четырех точках и процедуры с двойной конфигурацией. Основное назначение данного стандарта заключается в предоставлении четких и воспроизводимых методов для определения равномерности электрического сопротивления материалов, таких как полупроводники и проводящие пленки, используемые в микроэлектронике и других высокотехнологичных отраслях.

В документе регламентируются ключевые аспекты, касающиеся методов испытаний, параметров и требований к оборудованию. Стандарт описывает процедуру, при которой используются четыре электрода для минимизации влияния контактов на измерения, а также определяет условия, при которых должны проводиться испытания, включая температуру и влажность окружающей среды. Это позволяет обеспечить точность и надежность получаемых данных.

Важные технические детали включают в себя описание условий испытаний, таких как выбор места установки пробника и подготовка образцов. Измеряемыми величинами являютсяsheet resistance и его однородность, что критично для обеспечения качества конечного продукта. Также стандарт устанавливает требования к калибровке оборудования и методам обработки полученных результатов, что способствует повышению достоверности измерений.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых материалов, лаборатории, занимающиеся испытаниями, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение стандартов качества в области электроники. Применение данного документа позволяет организациям улучшать процессы контроля качества и обеспечивать соответствие продукции установленным требованиям.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на охрану труда. Высокая однородность электрического сопротивления способствует улучшению характеристик конечных изделий, что, в свою очередь, может снизить риск отказов оборудования и повысить его надежность. Стандарт также поддерживает совместимость различных технологий, что важно для интеграции новых решений в существующие производственные процессы.

С момента его публикации в 2002 году стандарт подвергался пересмотру, что привело к уточнению некоторых аспектов методологии и требованиям к оборудованию. Эти изменения направлены на улучшение точности измерений и адаптацию к новым технологиям, что делает стандарт актуальным для современных производственных условий.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF ASTM F1528-1994 (R 1999) Standard Test Method for Measuring Boron Contamination in Heavily Doped N-Type Silicon Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry Стандартный метод испытаний для измерения загрязнения бором в тяжеловошенных N-типовых подложках из кремния методом вторичного ионного масс-спектрометрирования PDF ASTM F1527-2002 Standard Guide for Application of Certified Reference Materials and Reference Wafers for Calibration and Control of Instruments for Measuring Resistivity of Silicon Стандартное руководство по применению сертифицированных эталонных материалов и эталонных пластинок для калибровки и контроля приборов для измерения удельного сопротивления кремния PDF ASTM F1526-1995 (R 2000) Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination on Silicon Wafers by Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy Стандартный метод испытаний для измерения поверхностного металлического загрязнения на кремниевых пластинах методом полного отражения рентгеновской флуоресцентной спектроскопии PDF ASTM F153-1995 Standard Test Method for Determining the Yield of Wide Inked Computer Ribbons Стандартный метод испытаний для определения выхода широких компьютерных лент с чернилами PDF ASTM F1530-2002 Standard Test Method for Measuring Flatness, Thickness, and Thickness Variation on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning Стандартный метод испытаний для измерения плоскостности, толщины и вариации толщины на кремниевых пластинах с помощью автоматического безконтактного сканирования PDF ASTM F1531-1994 Standard Test Method for Comparing Printer or Copier Cartridges Стандартный метод испытаний для сравнения картриджей принтеров или копировальных машин