Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F1725-2002 Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots

Название документа
ASTM F1725-2002 Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ ASTM F1725-2002 представляет собой стандартное руководство, посвященное анализу кристаллографической совершенства кремниевых слитков. Основное назначение данного стандарта заключается в предоставлении методических рекомендаций для оценки качества кристаллической структуры кремния, что имеет важное значение в производстве полупроводников и солнечных элементов. Стандарт охватывает различные аспекты, связанные с анализом, включая методы измерения, параметры и процедуры, необходимые для достижения точных и воспроизводимых результатов.

В документе описываются методы, такие как рентгеновская дифракция и другие аналитические техники, которые позволяют определить уровень кристаллической дефектности. Установлены ключевые параметры, включая ориентацию кристаллов, плотность дислокаций и другие характеристики, которые могут влиять на электрические и оптические свойства кремния. Кроме того, стандарт содержит требования к условиям испытаний, что обеспечивает надежность и сопоставимость получаемых данных.

Целевая аудитория стандарта включает производителей кремниевых слитков, лаборатории, занимающиеся их анализом, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение норм качества. Стандарт служит важным инструментом для специалистов в области материаловедения и полупроводниковой технологии, обеспечивая единые критерии для оценки и контроля качества продукции. Таким образом, он способствует улучшению процессов производства и повышению конкурентоспособности на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на качество и безопасность конечной продукции. Соблюдение рекомендаций ASTM F1725-2002 позволяет минимизировать риски, связанные с дефектами кристаллической структуры, что, в свою очередь, улучшает эксплуатационные характеристики полупроводниковых устройств и солнечных элементов. Стандарт также способствует охране труда и экологии, обеспечивая более безопасные условия производства и использования кремниевых материалов.

В последние годы в стандарт были внесены изменения, направленные на уточнение методов анализа и расширение диапазона применяемых технологий. Это позволяет учитывать новые достижения в области материаловедения и адаптировать стандарт к современным требованиям индустрии. Обновления способствуют улучшению точности и надежности оценок кристаллического совершенства, что является важным аспектом для повышения качества продукции в высоких технологиях.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.