Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ASTM F398-1992 (R 2002) Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum
Скачать документ нельзя Можно заказать бесплатно один документ
Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть» (“AS IS”), получены нами из открытых источников. Актуализация документов не производится, информацию о статусе, актуальности и полных атрибутах документов можно найти в тиражных системах «Техэксперт» либо в других источниках.
Возможно вас заинтересуют
ASTM F397-2002 Standard Test Method for Resistivity of Silicon Bars Using a Two-Point Probe
ASTM F396-2000 Standard Practice for Comparing One-Time Noncorrectable Typewriter Ribbons
ASTM F395-19
ASTM F399-2000a
ASTM F4-1966
ASTM F40-1983 STANDARD METHOD FOR PREPARING MONOCRYSTALLINE TEST INGOTS OF SILICON BY THE VERTICAL-PULLING (CZOCHRALSKI) TECHNIQUE