Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ASTM F950-2002 Standard Test Method for Measuring the Depth of Crystal Damage of a Mechanically Worked Silicon Slice Surface by Angle Polishing and Defect Etching
Скачать документ нельзя Можно заказать бесплатно один документ
Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть» (“AS IS”), получены нами из открытых источников. Актуализация документов не производится, информацию о статусе, актуальности и полных атрибутах документов можно найти в тиражных системах «Техэксперт» либо в других источниках.
Возможно вас заинтересуют
ASTM F95-1989 Standard Test Method for Thickness of Lightly Doped Silicon Epitaxial Layers on Heavily Doped Silicon Substrates Using an Infrared Dispersive Spectrophotometer
ASTM F949-20
ASTM F948-1994 (R 2011) Standard Test Method for Time-to-Failure of Plastic Piping Systems and Components Under Constant Internal Pressure With Flow
ASTM F951-2002 Standard Test Method for Determination of Radial Interstitial Oxygen Variation in Silicon Wafers
ASTM F952-2012 (R 2017) Standard Specification for Mixing Machines, Food, Electric
ASTM F952-2012 (R 2017) Standard Specification for Mixing Machines, Food, Electric