Top.Mail.Ru
ASTM — страница 244 | Информпроект Групп

Каталог документов

ASTM

Стандарты ASTM из раздела международных и зарубежных документов.

Перейти к документам

Картотека

Документы раздела

Страница 244 · Показано документов: 20

  1. ASTM

    ASTM F419-1994 Standard Test Method for Determining Carrier Density in Silicon Epitaxial Layers by Capacitance-Voltage Measurements on Fabricated Junction or Schottky Diodes Стандартный метод испытаний для определения плотности носителей в эпитаксиальных слоях кремния с помощью измерений емкость-напряжение на изготовленных соединениях или диодах Шоттки

    НД 816836013