Top.Mail.Ru
IEC — страница 88 | Информпроект Групп

Каталог документов

IEC

Стандарты IEC из раздела международных и зарубежных документов.

Перейти к документам

Картотека

Документы раздела

Страница 88 · Показано документов: 20

  1. IEC

    IEC 63275-2-2022 Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation Полупроводниковые устройства - Метод испытаний на надежность для дискретных транзисторов на основе карбида кремния металл-оксид-полупроводникового транзистора - Часть 2: Метод испытаний на деградацию биполярного типа из-за работы тела диода

    НД 496022401

  2. IEC

    IEC 63275-1-2022 Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability Полупроводниковые устройства - Метод испытаний на надежность для дискретных транзисторов на основе карбида кремния металл-оксид-полупроводникового транзистора - Часть 1: Метод испытаний на нестабильность напряжения и температуры

    НД 496022399

  3. IEC

    IEC 63269-2022 Maritime navigation and radiocommunication equipment and systems - Maritime survivor locating devices (man overboard devices) - Minimum requirements, methods of testing and required test results Морские навигационные и радиосвязные устройства и системы - Морские устройства для определения местоположения выживших (устройства для спасения с водной поверхности) - Минимальные требования, методы испытаний и требуемые результаты испытаний

    НД 496022397