Top.Mail.Ru
ISO — страница 411 | Информпроект Групп

Каталог документов

ISO

Стандарты ISO из раздела международных и зарубежных документов.

Перейти к документам

Картотека

Документы раздела

Страница 411 · Показано документов: 20

  1. ISO

    ISO 17331-2004 Surface chemical analysis Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy Поверхностный химический анализ Химические методы для сбора элементов с поверхности кремниевых плашек рабочих эталонных материалов и их определения методом полного отражения рентгеновской флуоресценции (TXRF) спектроскопии

    НД 816883127