Top.Mail.Ru
ISO — страница 444 | Информпроект Групп

Каталог документов

ISO

Стандарты ISO из раздела международных и зарубежных документов.

Перейти к документам

Картотека

Документы раздела

Страница 444 · Показано документов: 20

  1. ISO

    ISO 16413-2020 Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting Оценка толщины, плотности и ширины интерфейса тонких покрытий методом рентгеновской рефлектометрии — Инструментальные требования, выравнивание и позиционирование, сбор данных, анализ данных и отчетность

    НД 816881793