Главная

Документы

ГОСТ 25948-83 (СТ СЭВ 3910-82) Арсенид галлия и фосфид галлия монокристаллические. Измерение удельного электрического сопротивления и коэффициента Холла (с Изменением N 1)

Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ГОСТ 25948-83 (СТ СЭВ 3910-82) Арсенид галлия и фосфид галлия монокристаллические. Измерение удельного электрического сопротивления и коэффициента Холла (с Изменением N 1)

ГОСТ 25948-83
(СТ СЭВ 3910-82)

Группа В09

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

АРСЕНИД ГАЛЛИЯ И ФОСФИД ГАЛЛИЯ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ

Измерение удельного электрического сопротивления и коэффициента Холла

Monocrystal gallium arsenide and gallium phosphide. Measurement of specific electric resistance and Hall-coefficient

ОКСТУ 1772

Срок действия с 01.01.85
до 01.01.90*
________________________________
* Ограничение срока действия снято
по протоколу N 4-93 Межгосударственного Совета
по стандартизации, метрологии и сертификации
(ИУС N 4, 1994 год). - Примечание изготовителя базы данных.

РАЗРАБОТАН Министерством цветной металлургии СССР

ИСПОЛНИТЕЛИ

А.В.Елютин, Н.Н.Соловьев, Н.И.Сучкова, В.М.Михайлов

ВНЕСЕН Министерством цветной металлургии СССР

Член Коллегии А.П.Снурников

УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 28 октября 1983 г. N 5178

ВНЕСЕНО Изменение N 1, утвержденное и введенное в действие с 01.01.90 постановлением Госстандарта СССР от 22.03.89 N 606

Изменение N 1 внесено изготовителем базы данных по тексту ИУС N 6, 1989 год

Настоящий стандарт устанавливает метод измерения удельного электрического сопротивления, коэффициента Холла и определения типа электропроводности, концентрации и холловской подвижности основных носителей заряда для полупроводниковых материалов с удельным электрическим сопротивлением от 10 до 10 Ом·см монокристаллических арсенида галлия и фосфида галлия.

Стандарт полностью соответствует СТ СЭВ 3910-82.

(Измененная редакция, Изм. N 1).

1. СУЩНОСТЬ МЕТОДА

1.1. Определение удельного электрического сопротивления основано на измерении продольного электрического поля и плотности тока , вызываемого этим полем.

1.2. Определение коэффициента Холла основано на измерении поперечного электрического поля , возникающего в полупроводнике, помещенном в магнитное поле индукций при протекании через него тока плотностью в направлении, перпендикулярном магнитному полю.

1.3. Тип электропроводности полупроводникового материала устанавливают по знаку ЭДС Холла в соответствии с черт.1.

(Измененная редакция, Изм. N 1).

Черт.1*

_______________

* Чертеж 1. (Измененная редакция, Изм. N 1).

1.4. Концентрацию и подвижность основных носителей заряда определяют расчетным путем на основании данных по измерению удельного электрического сопротивления и коэффициента Холла.

2. АППАРАТУРА

2.1. Структурная схема установки для измерения удельного электрического сопротивления и коэффициента Холла представлена на черт.2.

1 - измеряемый образец; 2 - магнит; 3 - источник постоянного тока; 4 - измерительное устройство; 5 - коммутирующее устройство

Черт.2

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа

Номер документа

25948-83

Вид документа

Нормативно-технический документ

Принявший орган

Применяется с 01.01.1985

Классификация ОКС

77 Металлургия 77.120 Цветные металлы

Статус

Скрыто

Дата принятия

Скрыто

Дата начала действия

Скрыто

Документ «ГОСТ 25948-83 СТ СЭВ 3910-82» регламентирует методы измерения удельного электрического сопротивления и коэффициента Холла для монокристаллических арсенида галлия и фосфида галлия. Основное назначение стандарта заключается в установлении единых требований к проведению испытаний этих полупроводниковых материалов, что обеспечивает сопоставимость результатов и их соответствие международным нормам. Стандарт применяется в научных, производственных и исследовательских лабораториях, занимающихся разработкой и производством полупроводниковых устройств.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным документом, являются методы измерений, параметры испытаний и требования к оборудованию. Стандарт описывает необходимые условия для проведения измерений, включая температуру, давление и другие физические параметры, которые могут повлиять на результаты. Он также определяет порядок калибровки и проверки оборудования, что гарантирует точность и надежность получаемых данных.

Важные технические детали включают спецификации по измеряемым величинам, таким как удельное электрическое сопротивление и коэффициент Холла, а также методы их расчета и интерпретации. Стандарт также охватывает аспекты классификации образцов, что позволяет различать материалы в зависимости от их электрических свойств. Это особенно важно для производителей полупроводников, так как точные характеристики материалов влияют на качество конечной продукции.

Целевая аудитория документа включает производителей полупроводниковых материалов, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение стандартов в области электроники. Применение данного стандарта способствует повышению качества продукции и обеспечивает безопасность в процессе ее использования. Кроме того, он позволяет унифицировать подходы к тестированию и оценке полупроводников, что важно для международного сотрудничества в этой области.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых изделий. Соблюдение регламентируемых методов и требований способствует снижению рисков, связанных с использованием некачественных материалов, и обеспечивает высокую степень надежности электронных устройств. Изменения и дополнения к стандарту, внесенные в результате его актуализации, касаются уточнения методов испытаний и расширения параметров, подлежащих измерению, что делает его более современным и соответствующим текущим требованиям науки и техники.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.