ГОСТ 26239.1-84 Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Документ «ГОСТ 26239 1 84» устанавливает требования к полупроводниковому кремнию и кварцу, а также методы определения примесей в этих материалах. Основное назначение стандарта заключается в обеспечении качества исходных продуктов для производства полупроводников, что имеет важное значение для электроники и других высоких технологий. Стандарт применяется на предприятиях, занимающихся производством и обработкой полупроводниковых материалов, а также в лабораториях, занимающихся их анализом.

Ключевыми регламентируемыми аспектами являются методы анализа, параметры, определяющие чистоту кремния и кварца, а также требования к условиям испытаний. Стандарт описывает процедуры, которые необходимо соблюдать для получения достоверных результатов, включая спецификации по подготовке образцов, условиям хранения и проведения испытаний. Важным элементом является определение предельных значений содержания примесей, что позволяет классифицировать материалы по их чистоте и пригодности для применения в различных областях.

Технические детали, представленные в стандарте, включают методы спектроскопии и хроматографии, используемые для количественного определения примесей. Условия испытаний должны соответствовать определённым температурным и влажностным режимам, что обеспечивает стабильность и воспроизводимость результатов. Кроме того, документ уточняет измеряемые величины и их допустимые отклонения, что важно для обеспечения точности анализа.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых материалов, исследовательские и контрольные лаборатории, а также регулирующие органы, ответственные за соблюдение стандартов качества. Стандарт служит основой для разработки технологических процессов и контроля качества продукции, что способствует повышению уровня безопасности и надежности полупроводниковых устройств.

Практическое значение данного ГОСТа заключается в его влиянии на качество производимых полупроводников и, как следствие, на функциональность конечных продуктов. Соблюдение установленных требований способствует улучшению совместимости материалов и снижению рисков, связанных с эксплуатацией электроники. Изменение N 1, внесённое в стандарт, уточняет методы определения примесей, что позволяет улучшить точность и воспроизводимость результатов испытаний.