ГОСТ 27264-87 (СТ СЭВ 5538-86) Транзисторы силовые биполярные. Методы измерений

ГОСТ 27264-87
(СТ СЭВ 5538-86)

Группа Е69

     
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДAPT СОЮЗА ССР

ТРАНЗИСТОРЫ СИЛОВЫЕ БИПОЛЯРНЫЕ

Методы измерений

Power bipolar transistors.
Measurement methods

ОКП 34 1700

Дата введения 1988-01-01

     
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1. РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Министерством электротехнической промышленности СССР

ИСПОЛНИТЕЛИ

А.Н.Думаневич, канд. техн. наук; В.П.Белотелов; А.Н.Ильичев; В.Б.Братолюбов, канд. техн. наук; Б.П.Курбатов; В.В.Сажина

2. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 31.03.87 N 1093

3. Срок первой проверки 1993 г.

4. Стандарт полностью соответствует СТ СЭВ 5538-86.

5. Стандарт полностью соответствует международным стандартам МЭК 147-2-63, МЭК 147-2С-70, МЭК 147-2М-80, МЭК 747-1-83.

6. ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

7. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ (НТД):

Настоящий стандарт распространяется на силовые биполярные транзисторы, в том числе составные (в дальнейшем - транзисторы), на токи 10 А и более и устанавливает методы измерений электрических, тепловых параметров и проверок предельно допустимых значений параметров.

1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

1.1. Измерения и проверки параметров, если не оговорено особо, проводят при нормальных климатических условиях по ГОСТ 20.57.406-81.

1.2. Если не оговорено особо, общая относительная погрешность измерения или проверки параметров не должна превышать ±15% для временных параметров и ±10% для остальных параметров с доверительной вероятностью 0,95. Конкретные значения погрешностей, при необходимости, должны устанавливаться в технических условиях на транзисторы конкретных типов.

Погрешность установления и поддержания режимов измерения параметров и проверки предельно допустимых значений параметров не должна превышать ±5% для постоянных токов, напряжений, мощностей и ±10% для переменных или импульсных токов, напряжений, мощностей.

Погрешность измерения теплового сопротивления не устанавливается.

1.3. Измерительные устройства, предусмотренные схемами для установления и регулирования режима измерения, могут быть исключены и заменены устройствами автоматического установления и регулирования режима. При этом погрешность этих устройств должна быть такой, чтобы погрешность установления и поддержания режимов измерения и проверки соответствовала п.1.2.

1.4. В качестве измерительных устройств мгновенных и амплитудных значений, предусмотренных схемами для измерения параметров, допускается применение как осциллоскопов, так и других измерительных устройств (в том числе для измерения временных интервалов).

При этом метрологические характеристики измерительных устройств должны быть такими, чтобы погрешность измерения и проверки соответствовала требованиям п.1.2.

1.5. До начала измерения параметров и проверки предельно допустимых значений параметров при максимально и (или) минимально допустимой рабочей температуре транзисторы должны прогреваться или охлаждаться до полного установления теплового равновесия. Точность поддержания температуры перехода до измерения и проверки параметров должна находиться в пределах ±5 °С (при нагревании транзисторов внешним источником тепла). При измерении параметров как критериальных в процессе испытаний на воздействие внешних факторов точность поддержания температуры - в соответствии с требованиями метода испытаний по ГОСТ 20.57.406-81.

Контроль температуры перехода должен осуществляться по температуре корпуса; допускается контроль по температуре окружающей среды.