Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ 11630-84 (СТ СЭВ 300-76, СТ СЭВ 3992-83) Приборы полупроводниковые. Общие технические условия
ГОСТ 11630-84
(СТ СЭВ 300-76,
СТ СЭВ 3992-83)
Группа Э20
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
Общие технические условия
Semiconductor devices. General specifications
ОКП 62 0000
Дата введения 1985-07-01
Постановлением Госстандарта N 826 от 30.07.92 снято ограничение срока действия
ВЗАМЕН ГОСТ 11630-70
ПЕРЕИЗДАНИЕ. Июнь 1994 г.
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые приборы, излучающие диоды и оптопары производственно-технического назначения и народного потребления (далее - приборы), изготовляемые для народного хозяйства и экспорта.
Приборы изготовляют в климатическом исполнении УХЛ категорий размещения 1, 1.1, 2, 2.1, 3, 3.1, 5.1 по ГОСТ 15150-69.
Стандарт не распространяется на бескорпусные приборы, силовые полупроводниковые приборы, селеновые приборы, полупроводниковые приемники излучения, диоды СВЧ.
Приборы, изготовляемые для экспорта, должны соответствовать требованиям ГОСТ 23135-78 и требованиям, изложенным в соответствующих разделах настоящего стандарта.
Настоящий стандарт соответствует полностью СТ СЭВ 300-76 и СТ СЭВ 3992-83 в части полупроводниковых излучающих диодов и оптопар (см. приложение 1).
1. ТЕХНИЧЕСКИЕ ТРЕБОВАНИЯ
1.1. Приборы следует изготовлять в соответствии с требованиями настоящего стандарта по рабочим чертежам и технической документации, утвержденной в установленном порядке.
1.2.1. Габаритные и присоединительные размеры приборов - по ГОСТ 18472-88, ГОСТ 23448-79, ГОСТ 24354-80 и стандартам, утвержденным в установленном порядке.
Общий вид и установочные размеры должны соответствовать чертежам, приведенным в стандартах или технических условиях (ТУ) на приборы конкретных типов.
Конструкция приборов должна соответствовать требованиям к автоматизированной сборке аппаратуры, если данное требование указано в стандартах или ТУ на приборы конкретных типов.
1.2.2. Внешний вид приборов должен соответствовать образцам внешнего вида и их описаниям, утвержденным в установленном порядке.
Описания прилагают к стандартам или ТУ на приборы конкретных типов и высылают потребителю.
Покрытия выводов (кроме торцов), предназначенных для пайки, не должны иметь просветов, через которые просматривается основной металл, коррозионных поражений, пузырей, отслаивания и шелушения.
1.2.3. Масса приборов не должна превышать значений, установленных в стандартах или ТУ на приборы конкретных типов.
1.2.4. Приборы должны быть герметичными.
Показатель герметичности приборов в корпусах, герметизация которых осуществляется пайкой (сваркой), по скорости утечки воздуха не должен быть более:
5·10 Па·см
/с (5·10
д·мкм. рт.ст. с
*) - для приборов со свободным внутренним объемом до 1 см
;
5·10 Па·см
/с (5·10
л·мкм. рт.ст. с
*) - для приборов со свободным внутренним объемом более 1 см
.
________________
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ ГОСТ 11630-84 СТ СЭВ 300-76 СТ СЭВ 3992-83 устанавливает общие технические условия для полупроводниковых приборов. Он применяется в различных отраслях, где используются полупроводниковые технологии, включая электронику, телекоммуникации и автоматизацию. Стандарт обеспечивает единые требования к качеству и надежности полупроводниковых изделий, что способствует их правильному применению в производственных процессах.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы испытаний, параметры, требования к конструкции и материалам, а также процедуры контроля качества. В частности, документ описывает методы электрических испытаний, температурные режимы, механические нагрузки и другие условия, которые должны учитывать производители при разработке и производстве полупроводниковых приборов. Это позволяет обеспечить высокую степень совместимости изделий и их соответствие заявленным характеристикам.
Технические детали, указанные в стандарте, включают условия испытаний на устойчивость к внешним воздействиям, такие как температура, влажность и механические нагрузки. Также в документе предусмотрены классификации полупроводниковых приборов по их функциональным параметрам и области применения. Измеряемые величины, такие как ток, напряжение и мощность, должны соответствовать установленным нормам для обеспечения надежной работы приборов в различных условиях эксплуатации.
Целевая аудитория ГОСТ 11630-84 включает производителей полупроводниковых изделий, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и проверкой качества. Стандарт служит основой для разработки новых технологий и улучшения существующих процессов, что в конечном итоге способствует повышению конкурентоспособности отечественной продукции на рынке. Это также важно для обеспечения безопасности и защиты прав потребителей.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и охрану труда. Соблюдение требований ГОСТ 11630-84 способствует снижению рисков, связанных с использованием полупроводниковых приборов, и повышает их эксплуатационные характеристики. Кроме того, стандарт способствует унификации и стандартизации продукции, что облегчает процесс сертификации и контроля качества на всех этапах производства.
В последующих редакциях и дополнениях к стандарту были уточнены некоторые требования и методы испытаний, что позволило улучшить качество полупроводниковых приборов и их соответствие современным требованиям. Эти изменения направлены на адаптацию к новым технологиям и материалам, используемым в производстве, что делает стандарт актуальным и востребованным в условиях быстро развивающейся отрасли.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»