ГОСТ 18604.22-78 (СТ СЭВ 4289-83) Транзисторы биполярные. Методы измерения напряжения насыщения коллектор-эмиттер и база-эмиттер (с Изменением N 1) - Информпроект Групп
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ГОСТ 18604.22-78 (СТ СЭВ 4289-83) Транзисторы биполярные. Методы измерения напряжения насыщения коллектор-эмиттер и база-эмиттер (с Изменением N 1)

ГОСТ 18604.22-78 (СТ СЭВ 4289-83) Транзисторы биполярные. Методы измерения напряжения насыщения коллектор-эмиттер и база-эмиттер (с Изменением N 1)

    
     ГОСТ 18604.22-78*
(CT СЭВ 4289-83)

Группа Э29

     
     
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ТРАНЗИСТОРЫ БИПОЛЯРНЫЕ

Методы измерения напряжения насыщения
коллектор-эмиттер и база-эмиттер

Transistors bipolar.
Methods for measuring collector-emitter
and base-emitter saturation voltage

     
     
Дата введения 1980-01-01


Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 5 июля 1978 г. N 1816 срок введения установлен с 01.01.80

Проверен в 1984 г. Постановлением Госстандарта от 25.06.84 N 2078 срок действия продлен до 01.01.90**

________________

** Ограничение срока действия снято постановлением Госстандарта СССР от 17.09.91 N 1455 (ИУС N 12, 1991 год). - Примечание изготовителя базы данных.

ВЗАМЕН ГОСТ 13852-68

* ПЕРЕИЗДАНИЕ (декабрь 1985 г.) с Изменением N 1, утвержденным в октябре 1984 г. (ИУС 1-85).



Настоящий стандарт распространяется на биполярные транзисторы и устанавливает методы измерения напряжения насыщения коллектор-эмиттер и напряжения насыщения база-эмиттер в схеме с общим эмиттером на постоянном и импульсном токах.

Общие условия при измерении напряжения насыщения коллектор-эмиттер и база-эмиттер транзисторов должны соответствовать требованиям ГОСТ 18604.0-83.

Стандарт полностью соответствует СТ СЭВ 4289-83.

(Измененная редакция, Изм. N 1)



1. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ НАСЫЩЕНИЯ
КОЛЛЕКТОР-ЭМИТТЕР И БАЗА-ЭМИТТЕР НА ПОСТОЯННОМ ТОКЕ

1.1. Принцип и условия измерения

1.1.1. Измерение заключается в определении напряжения между выводами транзистора в режиме насыщения при заданных постоянных токах коллектора и базы.

1.1.2. Напряжение питания коллектора должно быть меньше граничного напряжения или равно ему.

Если значение не нормируют, то напряжение питания коллектора не должно превышать максимально допустимого значения постоянного напряжения коллектор-эмиттер.

1.1.3. Значения тока базы и тока коллектора , значение граничного напряжения указывают в нормативно-технической документации на транзисторы конкретных типов.

1.1.4. Допускается задавать токи базы и коллектора от генераторов тока. При этом выходное сопротивление генератора тока базы должно удовлетворять условию

,



а выходное сопротивление генератора тока коллектора должно удовлетворять условию

,



где и - максимальные значения напряжения насыщения коллектор-эмиттер и база-эмиттер, которые могут быть измерены на данной установке;


и - минимальные значения токов коллектора и базы, которые могут быть установлены на данной установке.

1.2. Аппаратура

1.2.1. Напряжение насыщения коллектор-эмиттер и база-эмиттер на постоянном токе следует измерять на установке, структурная схема которой приведена на черт.1.




, - измерители постоянных токов базы и коллектора; - измеритель постоянного напряжения;
  и ; , - резисторы; - измеряемый транзистор; - переключатель

Черт.1



1.2.2. Основные элементы, входящие в схему, должны удовлетворять следующим требованиям.

1.2.2.1. Входное сопротивление измерителя постоянного напряжения должно удовлетворять соотношениям

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
ГОСТ 18604.22-78 (СТ СЭВ 4289-83) Транзисторы биполярные. Методы измерения напряжения насыщения коллектор-эмиттер и база-эмиттер (с Изменением N 1)
Номер документа
18604.22-78
Вид документа
Нормативно-технический документ
Принявший орган
Применяется с 01.01.1980 взамен ГОСТ 13852-68
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ГОСТ 18604 22 78 СТ СЭВ 4289 83 Транзисторы биполярные. Методы измерения напряжения насыщения коллектор-эмиттер и база-эмиттер» регламентирует методы и процедуры, используемые для определения напряжений насыщения в биполярных транзисторах. Он применяется в области электроники, в частности, при разработке и производстве полупроводниковых устройств, где важна точность измерений этих параметров для обеспечения высоких эксплуатационных характеристик. Стандарт охватывает как теоретические аспекты, так и практические рекомендации по проведению испытаний.

Ключевыми аспектами документа являются методы измерения напряжений насыщения, а также параметры, которые необходимо учитывать при их определении. В частности, описываются условия, при которых проводятся испытания, включая температуру, уровень тока и другие электрические характеристики, влияющие на результаты измерений. Также регламентируются требования к оборудованию, используемому для проведения испытаний, что обеспечивает единообразие и сопоставимость получаемых данных.

Технические детали, изложенные в документе, включают классификацию измеряемых величин, таких как напряжение насыщения коллектор-эмиттер и база-эмиттер. Условия испытаний описывают необходимые параметры окружающей среды и режимы работы транзисторов. Это позволяет лабораториям и производителям точно воспроизводить условия испытаний, что критически важно для достижения надежности и точности результатов.

Целевая аудитория стандарта включает производителей биполярных транзисторов, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и тестированием полупроводниковых устройств. Стандарт обеспечивает общие принципы и рекомендации, что способствует повышению качества продукции и улучшению процессов контроля на всех этапах — от разработки до серийного производства.

Практическое значение данного стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции. Соблюдение регламентируемых методов измерений позволяет минимизировать риски, связанные с эксплуатацией электроники, и обеспечивает совместимость изделий между собой. Важным аспектом является также влияние на охрану труда, так как точные измерения способствуют снижению вероятности отказов в работе устройств, что в свою очередь повышает безопасность их использования.

Согласно изменениям, внесённым в документ, уточнены некоторые методы измерений и добавлены рекомендации по использованию современного оборудования. Эти дополнения направлены на улучшение точности и надежности результатов, а также на адаптацию к новым технологиям, используемым в производстве полупроводников.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»