Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ 18604.27-86 Транзисторы биполярные мощные высоковольтные. Метод измерения пробивного напряжения коллектор-база (эмиттер-база) при нулевом токе эмиттера (коллектора)
ГОСТ 18604.27-86
Группа Э29
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ТРАНЗИСТОРЫ БИПОЛЯРНЫЕ МОЩНЫЕ ВЫСОКОВОЛЬТНЫЕ
Метод измерения пробивного напряжения коллектор-база (эмиттер-база) при нулевом токе эмиттера (коллектора)
Power high-voltage bipolar transistors. Collector-base (emitter-base) breakdown voltage measurement at emitter (collector) cut-off current
ОКП 62 2300
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 25 апреля 1986 г. N 1124 срок действия установлен с 01.07.87 до 01.07.92*
________________
* Ограничение срока действия снято постановлением Госстандарта СССР от 29.05.91 N 760 (ИУС N 8, 1991 год). - Примечание изготовителя базы данных.
Настоящий стандарт распространяется на мощные высоковольтные биполярные транзисторы и устанавливает метод измерения пробивного напряжения коллектор-база и эмиттер-база
с использованием источника напряжения.
Допускается измерение пробивного напряжения с использованием генератора тока. Данный метод приведен в рекомендуемом приложении.
Общие требования при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 18604.0-83.
Стандарт полностью соответствует Публикации МЭК 147-2C и СТ СЭВ 3994-83.
1. УСЛОВИЯ И РЕЖИМ ИЗМЕРЕНИЯ
1.1. Параметр определяют измерением падения напряжения на переходе коллектор-база проверяемого транзистора при заданном обратном токе коллектора
и токе эмиттера, равном нулю.
Параметр определяют измерением падения напряжения на переходе эмиттер-база проверяемого транзистора при заданном обратном токе эмиттера
и токе коллектора, равном нулю.
1.2. Значение обратного тока коллектора или эмиттера
, при котором проводят измерение пробивного напряжения, должно соответствовать установленному в стандартах или технических условиях на транзисторы конкретных типов.
2. АППАРАТУРА
2.1. Параметр следует измерять на установке, электрическая структурная схема которой приведена на чертеже. Параметр
следует измерять на той же установке, подключаемой к выводам эмиттер-база, при отключенном коллекторе.
- проверяемый транзистор;
- эмиттер;
- коллектор;
- база;
- измеритель постоянного тока;
- ограничительный резистор;
- измеритель постоянного напряжения;
- источник постоянного напряжения
2.2. Внутреннее сопротивление измерителя постоянного тока
должно удовлетворять соотношению:
(1)
или
. (2)
Если это условие не может быть выполнено, то следует учитывать падение напряжения на измерителе постоянного тока, как указано в формуле
, (3)
где - напряжение на измерителе постоянного напряжения
,
- падение напряжения на измерителе постоянного тока
.
2.3. Внутреннее сопротивление измерителя постоянного напряжения должно удовлетворять соотношению:
. (4)
2.4. Сопротивление ограничительного резистора может быть постоянным или переменным, и его выбирают из условия защиты проверяемого транзистора и измерителя постоянного тока
от перегрузки по току.
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ 18604 27 86» регламентирует метод измерения пробивного напряжения между коллектором и базой, а также между эмиттером и базой биполярных мощных высоковольтных транзисторов при нулевом токе эмиттера и коллектора. Стандарт предназначен для использования в области электротехники и электроники, в частности для производителей транзисторов, научно-исследовательских лабораторий и контролирующих органов, занимающихся оценкой качества и безопасности полупроводниковых устройств.
Основными аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методики проведения испытаний, параметры измерений и требования к испытательному оборудованию. В документе подробно описаны условия, при которых проводятся испытания, включая температурный диапазон, уровень влажности и другие факторы, способные повлиять на результаты. Также определяются характеристики измеряемых величин, таких как пробивное напряжение и его допустимые пределы.
Важные технические детали включают указания на необходимость использования специализированного оборудования для получения достоверных результатов, а также описание процедуры подготовки образцов транзисторов к испытаниям. Стандарт также рассматривает вопросы калибровки измерительных приборов и условия, при которых необходимо проводить повторные испытания для подтверждения стабильности характеристик изделий.
Целевая аудитория стандарта включает производителей высоковольтных транзисторов, исследовательские и испытательные лаборатории, а также органы государственного контроля, которые отвечают за соблюдение норм и стандартов в области электротехнической продукции. Данный документ служит основой для оценки соответствия продукции установленным требованиям и стандартам качества.
Практическое значение стандарта заключается в обеспечении безопасности и надежности работы высоковольтных транзисторов, что в свою очередь влияет на качество конечной продукции и ее совместимость с другими электрическими устройствами. Стандарт способствует снижению рисков, связанных с электрическими пробоями и выходом из строя компонентов, что является критически важным для обеспечения безопасной эксплуатации электротехнических систем.
В последующих редакциях документа были внесены изменения, касающиеся уточнений в методах испытаний и требований к оборудованию. Эти дополнения направлены на улучшение точности измерений и повышение надежности результатов, что, в свою очередь, способствует улучшению качества и безопасности высоковольтных транзисторов в различных приложениях.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»