ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности (с Изменениями N 1, 2) - Информпроект Групп
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности (с Изменениями N 1, 2)

ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности (с Изменениями N 1, 2)


ГОСТ 18986.10-74

Группа Э29

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Методы измерения индуктивности

Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance

     

МКС 31.080.10

Дата введения 1976-07-01


Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 27 декабря 1974 г. N 2824 дата введения установлена 01.07.76

Ограничение срока действия снято по протоколу N 5-94 Межгосударственного совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС 11-12-94)

     
     ИЗДАНИЕ (май 2004 г.) с Изменениями N 1, 2, утвержденными в феврале 1979 г., августе 1982 г. (ИУС 4-79, 12-82)


Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:

метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более;

метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн.

Общие условия при измерении должны соответствовать требованиям ГОСТ 18986.0-74, ГОСТ 19656.0-74 и настоящего стандарта.

(Измененная редакция, Изм. N 2).



1. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ИНДУКТИВНОСТИ ДИОДОВ, ЗНАЧЕНИЕ КОТОРОЙ 2 нГн И БОЛЕЕ

1.1. Принцип, условия и режим измерений

1.1.1. Принцип измерения индуктивности диодов основан на измерении резонансной частоты колебательного контура куметра при подключении к нему измеряемого диода.

1.1.2. Постоянный прямой ток диода, при котором проводят измерение, должен быть таким, чтобы добротность контура с диодом была не менее 40.

1.1.3. Частота измерения, ГГц, должна удовлетворять условию

,



где - значение индуктивности, указанное в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов, Гн.

1.2. Аппаратура

1.2.1. Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой указана на черт.1.


- блок смещения; - миллиамперметр; - резистор подачи смещения; - катушка индуктивности, подключаемая к куметру; - куметр; - переменный конденсатор куметра; - резистор внутри куметра, на котором создается ЭДС высокой частоты; - измеряемый диод; - замыкатель

Черт.1

           

1.2.2. Индуктивность контура должны выбирать из условия

.

1.2.3. Индуктивность замыкателя должны выбирать из условия

.


Замыкатель рекомендуется изготовлять в виде отрезка плоской широкой шины из металла, хорошо проводящего ток на высокой частоте.

В необходимых случаях требования к конструкции замыкателя должны быть указаны в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности (с Изменениями N 1, 2)
Номер документа
18986.10-74
Вид документа
Нормативно-технический документ
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ГОСТ 18986-10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности с Изменениями N 1, 2» устанавливает требования к методам измерения индуктивности полупроводниковых диодов. Он предназначен для применения в области электронной техники, где требуется высокая точность измерений для обеспечения надёжности и функциональности электронных устройств. Стандарт охватывает различные аспекты, связанные с измерением индуктивности, включая условия испытаний и параметры, влияющие на результаты измерений.

В документе регламентируются методы измерения индуктивности, а также определяются ключевые параметры, такие как частота измерений, температура и напряжение. Установлены требования к оборудованию, используемому для измерений, а также к процедурам, которые необходимо соблюдать для получения достоверных результатов. Важным аспектом является необходимость калибровки измерительных приборов, что гарантирует точность и воспроизводимость результатов.

Технические детали, указанные в стандарте, включают описание условий испытаний, таких как диапазон температур и рабочие частоты, а также классификации диодов в зависимости от их электрических характеристик. Измеряемыми величинами являются индуктивность, сопротивление и другие параметры, влияющие на работу диодов. Стандарт также определяет методы обработки полученных данных для корректной интерпретации результатов.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых диодов, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и качеством продукции. Стандарт служит основой для разработки новых технологий и улучшения существующих процессов, что в свою очередь способствует повышению качества и надёжности электроники.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество электрических устройств, а также на охрану труда. Соблюдение требований ГОСТа способствует снижению рисков, связанных с эксплуатацией электронных компонентов, и повышает их совместимость. Изменения, внесённые в стандарт, касаются уточнения методов измерения и расширения диапазона применяемых параметров, что делает его актуальным для современных технологий и требований рынка.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»