Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ 18986.15-75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации (с Изменением N 1)
ГОСТ 18986.15-75
Группа Э29
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
СТАБИЛИТРОНЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
Метод измерения напряжения стабилизации
Reference diodes.
Method of measuring stabilization voltage
Дата введения 1977-01-01
ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 28 июля 1975 г. N 1949
Ограничение срока действия снято по протоколу N 2-92 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС 2-93)
ВЗАМЕН ГОСТ 14093-68
ИЗДАНИЕ (июль 2000 г.) с Изменением N 1, утвержденным в июне 1982 г. (ИУС 10-82)
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизации.
Общие условия при измерении должны соответствовать требованиям ГОСТ 18986.0-74 и настоящего стандарта.
Стандарт соответствует СТ СЭВ 3200-81 в части метода измерения напряжения стабилизации и Публикации МЭК 147-2М (см. приложение).
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1. УСЛОВИЯ И РЕЖИМ ИЗМЕРЕНИЯ
1.1. Параметры режима измерений (ток стабилизации и температура) должны соответствовать установленным в стандартах или технических условиях на стабилитроны конкретных типов.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1.2. (Исключен, Изм. N 1).
2. АППАРАТУРА
2.1. Напряжение стабилизации следует измерять на установке, структурная схема которой приведена на чертеже.
G1 - генератор постоянного тока; VD - измеряемый стабилитрон; PV - измеритель постоянного напряжения; G2 - источник опорного напряжения; X1, Х2 - выводы
(Измененная редакция, Изм. N 1).
2.2. Основные элементы, входящие в электрическую схему, должны удовлетворять требованиям, указанным ниже.
2.2.1. Относительная погрешность задания и поддержания тока стабилизации (), протекающего через испытываемый прибор, с учетом потребления тока измерительным прибором и блоком защиты, должна быть не более значения
но в пределах ±3%,
где - основная относительная погрешность измерительной установки в процентах;
- дифференциальное сопротивление, Ом;
- номинальное значение напряжения стабилизации, В;
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ 18986 15 75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации с Изменением N 1» регламентирует методику измерения напряжения стабилизации полупроводниковых стабилитронов. Основное назначение стандарта заключается в установлении единых требований к проведению испытаний и оценке характеристик стабилитронов, что позволяет обеспечить их надежность и стабильность в различных условиях эксплуатации.
Стандарт охватывает ключевые аспекты, включая методы измерения, параметры испытаний и требования к оборудованию. В частности, в документе описываются условия, при которых проводятся испытания, а также рекомендуемые значения для измеряемых величин, таких как температура, напряжение и ток. Это позволяет гарантировать, что измерения будут проводиться в соответствии с установленными нормами и обеспечит достоверность полученных результатов.
Важные технические детали включают классификацию стабилитронов по различным параметрам, а также спецификации для испытательного оборудования. Стандарт также определяет порядок проведения испытаний, включая последовательность действий и необходимые инструменты, что способствует унификации процессов в лабораториях и на производственных площадках.
Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и проверкой качества продукции. Таким образом, документ служит важным инструментом для специалистов, работающих в области электроники и электротехники.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции. Соблюдение требований ГОСТ обеспечивает совместимость стабилитронов с другими компонентами электроники, что, в свою очередь, минимизирует риски отказов и повышает общий уровень надежности электрических схем. Кроме того, наличие четких регламентов способствует улучшению условий труда и снижению вероятности ошибок в процессе производства и испытаний.
Изменения, внесенные в стандарт, касаются уточнения методов измерения и обновления требований к испытательному оборудованию. Эти дополнения направлены на улучшение точности и воспроизводимости результатов, что является важным аспектом для поддержания высоких стандартов качества в производстве полупроводниковых устройств.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
Возможно вас заинтересуют
ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
ГОСТ 24733-81 Гнезда и штепсели однополюсные с диаметром контактов 1,6 и 4,0 мм. Технические условия (с Изменением N 1)
ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
ГОСТ 26991-86 Соединители оптические. Требования к технологическому процессу (с Изменением N 1)
ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока (с Изменением N 1)
ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации (с Изменением N 1, с Поправкой)