Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления (с Изменением N 1)
ГОСТ 18986.22-78
Группа Э29
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
СТАБИЛИТРОНЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
Методы измерения дифференциального сопротивления
Reference diodes.
Methods for measuring differential resistance
Дата введения 1980-01-01
ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 18.07.78 N 1939
Ограничение срока действия снято по протоколу N 2-92 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС 2-93)
ВЗАМЕН ГОСТ 15603-70
ИЗДАНИЕ (август 2002 г.) с Изменением N 1, утвержденным в июне 1982 г. (ИУС 10-82)
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления :
- на переменном токе;
- на постоянном токе.
Общие положения при измерении дифференциального сопротивления стабилитронов должны соответствовать требованиям ГОСТ 18986.0-74.
Метод измерения дифференциального сопротивления на переменном токе соответствует СТ СЭВ 3200-81 в части метода измерения дифференциального сопротивления и Публикации МЭК 147-2М (см. приложение 3).
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ НА ПЕРЕМЕННОМ ТОКЕ
1.1. Принцип и условия измерения
1.1.1. Метод следует применять:
- для стабилитронов с током стабилизации более 0,25 мА при выполнении условия (1)
10, (1)
где - граничная частота статического режима, Гц;
для стабилитронов с током стабилизации 0,25 мА и менее при выполнении условия (1) или условия (2)
, (2)
где - общая погрешность измерения дифференциального сопротивления на переменном токе, %;
- общая погрешность измерения дифференциального сопротивления на постоянном токе, %.
1.1.2. Измерение дифференциального сопротивления стабилитронов основано на измерении падения напряжения, вызываемого переменным током с максимальным значением, не превышающим установленного в п.1.2.6, смещенным по постоянному току в точку вольт-амперной характеристики (далее - в.а.х.), в которой проводят измерение.
1.1.3. Значения электрических, температурных режимов измерения дифференциального сопротивления стабилитронов, среда, а также способ закрепления измеряемых приборов должны быть указаны в стандартах или технических условиях на стабилитроны конкретных типов.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1.1.4. Изменение температуры окружающей среды за время измерения должно быть в пределах ±2 °С.
1.2.1. Измерение проводят на установке, электрическая функциональная схема которой приведена на черт.1.
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ 18986 22 78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления с Изменением Н 1» регламентирует методы измерения дифференциального сопротивления стабилитронов, используемых в полупроводниковой электронике. Основное назначение стандарта заключается в обеспечении единства измерений и повышении точности оценки характеристик стабилитронов, что имеет важное значение для их применения в различных электронных устройствах и системах.
Стандарт описывает ключевые методы, параметры и требования, применяемые при измерении дифференциального сопротивления стабилитронов. В документе подробно изложены процедуры испытаний, включая условия, при которых проводятся измерения, а также параметры, которые необходимо учитывать для получения достоверных результатов. Регламентируется использование определённых измерительных приборов и методов, что обеспечивает сопоставимость результатов между различными лабораториями и производственными предприятиями.
Среди важных технических деталей, указанных в стандарте, можно выделить условия испытаний, такие как температура, напряжение и ток, при которых проводятся измерения. Также описаны классификации стабилитронов и измеряемые величины, что позволяет специалистам более точно определять их характеристики и эксплуатационные параметры. Эти аспекты являются критически важными для обеспечения корректной работы электронных схем, в которых используются стабилитроны.
Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и контролем качества. Стандарт служит основой для разработки новых технологий и улучшения существующих процессов, что, в свою очередь, способствует повышению качества и надежности продукции на рынке.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество электроники. Соблюдение регламентируемых методов измерений способствует повышению надежности стабилитронов, что в свою очередь уменьшает риск неисправностей и аварий в электронных устройствах. Внесённые изменения и дополнения в стандарт уточняют некоторые аспекты методов измерения и расширяют область применения, что делает его более актуальным в условиях быстро развивающейся электроники.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»