Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)
ГОСТ 18986.23-80
Группа Э29
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
СТАБИЛИТРОНЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
Методы измерения спектральной плотности шума
Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density
Дата введения 1982-01-01
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 12.12.80 N 5804 дата введения установлена 01.01.82
Ограничение срока действия снято Постановлением Госстандарта от 30.08.91 N 1410
ИЗДАНИЕ (август 2002 г.) с Изменением N 1, утвержденным в сентябре 1986 г. (ИУС 12-86).
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума :
- метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц;
- метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц.
Общие требования при измерениях должны соответствовать ГОСТ 18986.0-74 и требованиям, изложенным в соответствующих разделах настоящего стандарта.
1. МЕТОД 1
1.1. Принцип и условия измерения
1.1.1. Спектральную плотность шума определяют по результатам измерения среднеквадратического значения напряжения шума стабилитрона в установленной полосе частот.
1.1.2. Измерения проводят на одной частоте при выполнении условия полосности фильтра
, (1)
где - верхняя граничная частота полосы пропускания вольтметра
на уровне 0,7, Гц;
- нижняя граничная частота полосы пропускания вольтметра
на уровне 0,7, Гц.
Если не выполняется условие 1, то измерение проводят в полосе частот.
1.1.3. Условие измерения (температура) и электрический режим измерения (ток стабилизации и полоса частот) должны соответствовать установленным в стандартах или технических условиях на стабилитроны конкретных типов.
1.2.1. Для измерения следует применять установку, электрическая структурная схема которой приведена на черт.1.
- генератор постоянного тока;
- измеряемый стабилитрон;
- вольтметр для измерения среднеквадратического значения напряжения
Черт.1
Электрические параметры вольтметров для измерения среднеквадратического значения напряжения приведены в приложении 3.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1.2.2. Генератор постоянного тока должен обеспечивать установление тока с погрешностью в пределах ±5%.
1.2.3. Реактивная составляющая полного входного сопротивления измерительной установки может быть компенсирована резонансным контуром.
1.2.4. Спектральная плотность напряжения собственных шумов и электромагнитных помех измерительной установки не должна превышать значения измеряемой спектральной плотности шума стабилитрона.
1.2.5. Для измерения собственных шумов установки стабилитрон заменяют цепью, состоящей из параллельно включенных резистора и конденсатора
.
Сопротивление резистора должно соответствовать соотношению
, (2)
где - дифференциальное сопротивление стабилитрона в режиме измерения спектральной плотности шума, установленное в стандартах или технических условиях на стабилитроны конкретных типов, Ом.
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ 18986 23 80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума с Изменением N 1» устанавливает стандарты для измерения спектральной плотности шума стабилитронов, которые являются важными компонентами в электронных устройствах. Основное назначение документа заключается в обеспечении единообразия и точности измерений, что способствует повышению качества и надежности продукции в области электроники. Стандарт применяется в различных отраслях, включая производство полупроводниковых приборов, а также в научных и испытательных лабораториях.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми в данном стандарте, являются методы измерения, параметры и условия испытаний, а также требования к оборудованию, используемому для измерений. В документе описываются как общие методики, так и специфические процедуры, позволяющие получить достоверные данные о спектральной плотности шума. В частности, акцентируется внимание на необходимости соблюдения определенных условий окружающей среды и параметров питания, что критично для получения корректных результатов.
Технические детали, приведенные в стандарте, включают классификацию стабилитронов по различным критериям, а также описание измеряемых величин, таких как уровень шума и его спектр. В документе также рассматриваются методы обработки полученных данных, что позволяет обеспечить высокую точность и воспроизводимость результатов. Эти аспекты имеют особое значение для лабораторий, занимающихся тестированием и сертификацией полупроводниковых устройств.
Целевая аудитория стандарта включает производителей стабилитронов, научные и испытательные лаборатории, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение качества и безопасности продукции. Стандарт способствует улучшению взаимодействия между различными участниками производственного процесса, обеспечивая единые требования к качеству и надежности изделий.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых приборов, что, в свою очередь, отражается на общей надежности электронных устройств. Соблюдение данного ГОСТа позволяет минимизировать риск возникновения неисправностей, связанных с шумом, что имеет важное значение для высокочувствительных приложений. Изменение N 1 вносит уточнения в ранее установленные методы и требования, что позволяет адаптировать стандарт к современным условиям и достижениям в области электроники.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
Возможно вас заинтересуют
ГОСТ 13107-79 Устройства приема и передачи речи. Методы измерения шумов (с Изменением N 1)
ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления (с Изменением N 1)
ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
ГОСТ 16815-71 Тест-таблица 0159К-12 для факсимильных аппаратов (с Изменением N 1)
ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
ГОСТ 19654-74 Каналы передачи данных. Методы измерений параметров (с Изменениями N 1-3)