ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения

ГОСТ 18986.24-83

Группа Э29

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Метод измерения пробивного напряжения

Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage

ОКП 62 1000

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 24.06.83 № 2681 дата введения установлена 01.07.84

Ограничение срока действия снято по протоколу № 3-93 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС 5-6-93)

Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения.

Общие требования к измерению и требования безопасности - по ГОСТ 18986.0-74.

1. УСЛОВИЯ И РЕЖИМ ИЗМЕРЕНИЙ

1.1. Пробивное напряжение определяют измерением обратного напряжения, при котором обратный ток через диод достигает заданного значения в области пробоя перехода.

1.2. Значение обратного тока должно соответствовать установленному в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов, при этом значение обратного тока должно быть не менее 10 мкА.

2. АППАРАТУРА

2.1. Измерения следует проводить на установке, структурная схема которой приведена на чертеже.

G - генератор постоянного или пульсирующего напряжения; R - резистор; PA - измеритель тока; VD - испытуемый диод; PV - измеритель напряжения

2.2. Значение сопротивления резистора выбирают таким, чтобы при коротком замыкании между выводами 1-2 показания измерителя тока не превышали двукратного значения обратного тока при котором измеряют пробивное напряжение.

2.3. Значение внутреннего сопротивления измерителя напряжения должно превышать не менее чем в 100 раз сопротивление диода в заданном режиме измерения. Погрешность измерителя напряжения должна быть в пределах ±3%.

3. ПОДГОТОВКА И ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ

3.1 Испытуемый диод подключают к измерительной установке.

3.2. Регулировкой генератора напряжения G по измерителю тока PA увеличивают обратный ток до заданного значения и по измерителю напряжения PV определяют значение .

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа

ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения

Номер документа

18986.24-83

Вид документа

Нормативно-технический документ

Классификация ОКС

31 Электроника 31.080 Полупроводниковые приборы

Статус

Скрыто

Дата принятия

Скрыто

Дата начала действия

Скрыто

Документ «ГОСТ 18986 24 83» регламентирует метод измерения пробивного напряжения полупроводниковых диодов. Основное назначение стандарта заключается в установлении единого подхода к проведению испытаний, что позволяет обеспечить сопоставимость результатов и гарантировать высокое качество продукции. Данный стандарт применяется в области разработки, производства и контроля полупроводниковых изделий, а также в научных исследованиях, связанных с электроникой.

Ключевыми аспектами, регулируемыми в данном документе, являются методы измерения пробивного напряжения, параметры испытаний и требования к оборудованию. Стандарт описывает процедуры, которые должны быть выполнены для получения достоверных результатов, включая условия окружающей среды, такие как температура и влажность, а также спецификации по подготовке образцов. Важным элементом является описание необходимых средств измерения и их калибровки.

Важные технические детали включают в себя классификацию диодов по типам и параметрам пробивного напряжения, а также измеряемые величины, такие как уровень пробивного напряжения и его зависимость от различных факторов. Стандарт также уточняет, какие параметры следует учитывать при интерпретации результатов испытаний, что способствует более точной оценке характеристик полупроводниковых устройств.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковой продукции, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и проверкой качества. Стандарт служит важным инструментом для специалистов, работающих в области разработки и тестирования электронных компонентов, обеспечивая единообразие в подходах к оценке их характеристик.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и надежность полупроводниковых изделий. Соблюдение требований ГОСТ 18986 24 83 способствует повышению уровня защиты пользователей от потенциальных неисправностей и аварий, связанных с использованием электроники. Также стандарт играет важную роль в обеспечении совместимости различных компонентов в электронных системах.

В последних редакциях документа были внесены изменения, касающиеся уточнения методов испытаний и расширения перечня регламентируемых параметров. Это позволяет адаптировать стандарт к современным требованиям и технологиям, обеспечивая его актуальность и соответствие современным условиям производства и эксплуатации полупроводниковых изделий.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.