Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ 19656.4-74 (СТ СЭВ 3408-81) Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения потерь преобразования (с Изменениями N 1, 2)
ГОСТ 19656.4-74*
(СТ СЭВ 3408-81)
Группа Э29
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СВЧ СМЕСИТЕЛЬНЫЕ
Методы измерения потерь преобразования
Semiconductor microwave mixer diodes.
Methods of measuring conversion losses
Дата введения 1975-07-01
Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 29 марта 1974 г. N 753 срок введения установлен с 01.07.75
Проверен в 1987 г. Постановлением Госстандарта СССР от 20.04.87 N 1330 срок действия продлен до 01.07.92**
________________
** Ограничение срока действия снято постановлением Госстандарта СССР от 02.09.91 N 1413 (ИУС N 12, 1991 год). - Примечание изготовителя базы данных.
* ПЕРЕИЗДАНИЕ (апрель 1988 г.) с Изменениями N 1, N 2, утвержденными в июле 1976 г., январе 1983 г.; Пост. N 387 от 25.01.83 (ИУС N 7-1976 г., ИУС N 5-1983 г.)
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц методы измерения потерь преобразования :
дифференциальный метод;
метод амплитудной модуляции.
Методы измерений в диапазоне частот от 78,3 до 300 ГГц следует устанавливать в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.
Стандарт соответствует СТ СЭВ 3408-81 (см. справочное приложение 1) и Публикации МЭК 147-2К в части принципа измерения.
Общие требования при измерении должны соответствовать ГОСТ 19656.0-74 и настоящего стандарта.
(Измененная редакция, Изм. N 2).
1. ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЙ МЕТОД
Потери преобразования дифференциальным методом определяют измерением приращения выпрямленного среднего тока диода при соответствующем приращении СВЧ мощности сигнала на его входе.
1.1. Условия и режим измерения
1.1.1. Условия и режим измерения - по ГОСТ 19656.0-74.
1.1, 1.1.1. (Измененная редакция, Изм. N 2).
1.2.1. Измерение потерь преобразования проводят на установке, структурная схема которой приведена на черт.1.
- генератор СВЧ;
- частотомер;
- ферритовый вентиль;
- переменный аттенюатор;
- переменный прецизионный аттенюатор;
- измеритель мощности;
- измерительная
диодная камера; ,
- резисторы нагрузки;
- генератор постоянного тока;
- переключатель;
- микроамперметр;
- миллиамперметр.
Черт.1
1.2.2. Основные элементы, входящие в структурную схему, должны соответствовать следующим требованиям.
1.2-1.2.2. (Измененная редакция, Изм. N 2).
1.2.2.1. Переменный прецизионный аттенюатор должен иметь начальный участок шкалы от 0 до 10 дБ с ценой деления не более 0,1 дБ. Абсолютная погрешность установки ослабления должна находиться в пределах ±(0,01+0,005
), где
- устанавливаемое ослабление.
(Измененная редакция, Изм. N 1, 2).
1.2.2.2. Значения сопротивлений резисторов и
выбирают из условия
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ 19656 4 74 СТ СЭВ 3408 81» регламентирует методы измерения потерь преобразования полупроводниковых СВЧ смесительных диодов. Основное назначение стандарта заключается в установлении единого подхода к оценке характеристик и эффективности данных компонентов, что является важным для обеспечения их надёжности и производительности в различных электронных устройствах и системах. Стандарт применяется в области разработки, производства и испытаний полупроводниковых приборов, используемых в радиотехнике и связи.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми в документе, являются методы измерения потерь преобразования, а также параметры, которые необходимо учитывать при проведении испытаний. В частности, описываются условия испытаний, включая диапазон частот, температурные режимы и электрические параметры, что позволяет обеспечить корректность и сопоставимость результатов. Также предусмотрены требования к оборудованию, используемому для измерений, что способствует минимизации погрешностей.
Технические детали, указанные в стандарте, включают классификацию измеряемых величин, таких как коэффициенты преобразования и уровни шума, а также спецификации для различных типов диодов. Стандарт также определяет процедуры, которые должны соблюдаться при проведении испытаний, что обеспечивает высокую степень контроля за качеством измерений. Эти аспекты важны для лабораторий, занимающихся тестированием и сертификацией полупроводниковых компонентов.
Целевой аудиторией данного стандарта являются производители полупроводниковых диодов, исследовательские и испытательные лаборатории, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение норм и стандартов в области радиотехники. Стандарт служит основой для разработки новых изделий, а также для повышения качества существующих решений, что в свою очередь влияет на безопасность и эффективность работы электронных систем.
Практическое значение стандарта заключается в его способности обеспечивать высокое качество и совместимость полупроводниковых СВЧ смесительных диодов, что критически важно для надежной работы радиотехнических устройств. Кроме того, соблюдение требований стандарта способствует улучшению охраны труда и безопасности на производстве, так как позволяет снизить риск возникновения неисправностей и аварийных ситуаций. Изменения, внесенные в стандарт, касаются уточнения методов измерения и обновления рекомендаций по условиям испытаний, что делает его более актуальным для современных технологий.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
Возможно вас заинтересуют
ГОСТ 24593-87 Устройства ввода графические для электронных вычислительных машин. Общие технические условия
ГОСТ 19656.3-74 (СТ СЭВ 3408-81) Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения выходного сопротивления на промежуточной частоте (с Изменениями N 1, 2)
ГОСТ 21776-87 Устройства печатающие. Общие технические условия
ГОСТ 10084-73 Машины ручные электрические. Общие технические условия (с Изменениями N 2-7)
ГОСТ 19656.5-74 (СТ СЭВ 3997-83) Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Методы измерения шумового отношения (с Изменением N 1)
ГОСТ 27587-88 Средства технические аналоговой вычислительной техники. Общие технические условия