Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ 19656.5-74 (СТ СЭВ 3997-83) Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Методы измерения шумового отношения (с Изменением N 1)
ГОСТ 19656.5-74*
(СТ СЭВ 3997-83)
Группа Э29
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СВЧ СМЕСИТЕЛЬНЫЕ И ДЕТЕКТОРНЫЕ
Методы измерения шумового отношения
Semiconductor microwave mixer and detector diodes.
Methods of measuring output noise ratio
ОКП 62 1800
Дата введения 1975-07-01
Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 29 марта 1974 г. N 753 срок введения установлен с 01.07.75
Проверен в 1987 г. Постановлением Госстандарта СССР от 17.12.87 N 4595 срок действия продлен до 01.07.93**
________________
** Ограничение срока действия снято по протоколу Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС N 2, 1993 год). - Примечание изготовителя базы данных.
* ПЕРЕИЗДАНИЕ (апрель 1988 г.) с Изменением N 1, утвержденным в июне 1984 г.; Пост. N 1946 от 15.06.84 (ИУС 9-84)
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и детекторные и устанавливает 2 метода измерения шумового отношения при возбуждении диода:
СВЧ мощностью (в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц) ;
постоянным током .
Стандарт соответствует полностью СТ СЭВ 3997-83 и Публикации МЭК 147-2К в части принципа измерения.
Общие требования при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 19656.0-74.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ПРИ ВОЗБУЖДЕНИИ ДИОДА СВЧ МОЩНОСТЬЮ
1.1. Принцип и режим измерения
1.1.1. Принцип измерения основан на сравнении мощности шума проверяемого диода, находящегося в рабочем режиме, с мощностью теплового шума резистора, сопротивление которого равно выходному сопротивлению диода , значение которого определяют по ГОСТ 19656.3-74.
1.1.2. Режим измерения (уровень СВЧ мощности, длина волны или частота, на которой проводят измерения, сопротивление нагрузки диода по постоянному току, промежуточная частота и требования к измерительной камере) должен соответствовать установленным в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.
1.2.1. Шумовое отношение следует измерять на установке, схема которой приведена на черт.1.
- генератор СВЧ мощности:
- частотомер;
- вентиль;
- фильтр СВЧ
или другое устройство, обеспечивающее подавление шумов генератора ;
- переменный аттенюатор;
- переключатель СВЧ;
- измеритель мощности;
- измерительная диодная камера с диодом;
- усилитель промежуточной частоты;
- набор калибровочных резисторов
Черт.1
1.2.2. Фильтр СВЧ , обеспечивающий подавление шумов генератора
на частотах измерения до 17,78 ГГц, должен удовлетворять следующим требованиям:
рабочая частота должна быть равна частоте измерения;
полоса пропускания на уровне 25 дБ от вершины его частотной характеристики должна быть не более
(
- промежуточная частота);
полоса пропускания на уровне 0,5 дБ от вершины его частотной характеристики должна удовлетворять условию
,
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ 19656 5 74 СТ СЭВ 3997 83» регламентирует методы измерения шумового отношения для полупроводниковых СВЧ смесительных и детекторных диодов. Основное назначение стандарта заключается в обеспечении единообразия и точности измерений, что имеет критическое значение для разработки и контроля качества радиочастотных устройств. Стандарт находит применение в научных исследованиях, производстве и испытаниях полупроводниковых приборов, а также в лабораторной практике.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы измерения шумового отношения, параметры, которые необходимо учитывать при проведении испытаний, а также требования к оборудованию и условиям тестирования. Стандарт определяет, что измерения должны проводиться при заданных температурных условиях и с использованием определённых настроек оборудования, что позволяет минимизировать влияние внешних факторов на результаты.
Важные технические детали включают в себя описание классификаций диодов, методы их тестирования и измеряемые величины, такие как уровень шумового отношения и параметры сигнала. Стандарт также уточняет, какие именно условия испытаний должны быть соблюдены, чтобы результаты были сопоставимыми и надежными. Это особенно важно для лабораторий, занимающихся разработкой и тестированием новых полупроводниковых технологий.
Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых приборов, научные и исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и стандартизацией продукции. Эти группы заинтересованы в обеспечении качества и надежности своих изделий, что делает стандарт важным инструментом в их деятельности.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых устройств, что в свою очередь отражается на общей надежности электронных систем. Соблюдение данного стандарта способствует улучшению совместимости различных устройств и систем, что является важным аспектом в условиях быстро развивающейся электроники. Изменения, внесённые в стандарт, касаются уточнения методов измерений и требований к оборудованию, что позволяет повысить точность и надежность результатов испытаний.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»