Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ 19834.5-80 Диоды полупроводниковые инфракрасные излучающие. Метод измерения временных параметров импульса излучения (с Изменениями N 1, 2)
ГОСТ 19834.5-80
Группа Э29
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ИНФРАКРАСНЫЕ ИЗЛУЧАЮЩИЕ
Метод измерения временных параметров импульса излучения
Semiconductor emitting infra-red diodes.
Method for measuring of radiation pulse switching times
ОКП 621000
Дата введения 1982-01-01
ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 11.12.80 N 5774
Ограничение срока действия снято Постановлением Госстандарта от 30.07.92 N 824
ИЗДАНИЕ (апрель 2000 г. ) с Изменениями N 1, 2, утвержденными в декабре 1983 г., сентябре 1986 г. (ИУС 3-84, 12-86)
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды (далее - излучатели), в том числе бескорпусные, и устанавливает метод измерения временных параметров импульса излучения: времени нарастания , времени спада
, времени задержки при включении
, времени задержки при выключении
.
Общие требования при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 19834.0-75.
Стандарт соответствует СТ СЭВ 3788-82 в части измерения параметров импульса излучения (см. приложение).
(Измененная редакция, Изм. N 1, 2).
1. ПРИНЦИП, УСЛОВИЯ И РЕЖИМ ИЗМЕРЕНИЯ
1.1. Измерение временных параметров основано на преобразовании импульса излучения от излучателя в импульс электрического тока с последующим определением временных интервалов между заданными отсчетными уровнями импульсов.
(Измененная редакция, Изм. N 1, 2).
1.2. Режим измерения (амплитуда импульса тока, длительность импульса тока, частота следования импульса тока) должен соответствовать установленному в стандартах или технических условиях (далее - ТУ) на излучатели конкретных типов.
(Измененная редакция, Изм. N 2).
1.3. Условия измерения - по ГОСТ 19834.0-75.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
2. АППАРАТУРА
2.1. Измерения следует проводить на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт.1.
G1 - генератор импульсов тока; R1 - согласующий и токозадающий резистор; X1, Х2 - контакты подключения
излучателя; D - излучатель; В - фотоприемник; R2 - резистор нагрузки; G2 - регулируемый генератор
постоянного напряжения; Р - измеритель временных интервалов (осциллограф)
Черт.1
(Измененная редакция, Изм. N 1, 2).
2.3. Генератор импульсов тока G1 должен обеспечивать импульсы прямоугольной или трапецеидальной формы на согласованной нагрузке 50 Ом.
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ 19834-5-80» регламентирует метод измерения временных параметров импульса излучения полупроводниковых инфракрасных диодов. Основное назначение стандарта заключается в установлении единого подхода к оценке характеристик излучения, что обеспечивает совместимость и сопоставимость результатов испытаний в различных лабораториях и производственных условиях. Стандарт применяется в области разработки, производства и контроля качества инфракрасных диодов, что делает его актуальным для производителей, научных учреждений и контролирующих органов.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы измерения временных характеристик импульсов излучения, а также требования к условиям испытаний. В документе описываются параметры, которые необходимо учитывать при проведении измерений, такие как длительность импульса, время нарастания и спада, а также стабильность излучения. Установленные методы позволяют обеспечить точность и воспроизводимость результатов, что является критически важным для дальнейшего использования данных характеристик в различных приложениях.
Важные технические детали включают описание условий испытаний, таких как температура окружающей среды, уровень влажности и другие факторы, влияющие на результаты. Также предусмотрены классификации диодов по их временным параметрам, что позволяет более точно оценивать их характеристики и область применения. Измеряемыми величинами являются как временные параметры, так и интенсивность излучения, что позволяет проводить комплексный анализ работы диодов в различных режимах.
Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение норм и стандартов качества. Применение данного стандарта способствует повышению уровня безопасности и качества продукции, что в свою очередь влияет на надежность и долговечность инфракрасных диодов в различных сферах применения, включая медицинскую технику, системы безопасности и оптические коммуникации.
Изменения, внесенные в стандарт, касаются уточнения методов измерения и требований к оборудованию, используемому для испытаний. Эти дополнения направлены на улучшение точности измерений и устранение возможных источников погрешностей. Таким образом, «ГОСТ 19834-5-80» остается актуальным инструментом для обеспечения высокого уровня качества и надежности инфракрасных диодов, соответствующих современным требованиям промышленности.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»