Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS EN IEC 60749-20-2020
Документ «BS EN IEC 60749-20-2020» является международным стандартом, который определяет требования к методам испытаний полупроводниковых устройств, в частности, описывается оценка воздействия на устройства различных условий эксплуатации. Основное назначение стандарта заключается в установлении общих методов и процедур для измерения параметров, обеспечивающих надежность компонентов в полупроводниковых изделиях.
Ключевые аспекты, регламентируемые данным документом, включают способы проведения испытаний, определения критических параметров и таблиц, применяемых в процессе, а также описание необходимых условий экспериментов. Стандарт включает в себя методы для тестирования на устойчивость к влажности, температурным колебаниям и механическим воздействиям, что является важным для обеспечения долгосрочной работоспособности приборов.
Технические детали, касающиеся условий испытаний, описанных в стандарте, охватывают различные классификации полупроводниковых устройств, измеряемые величины, такие как токи утечки, и состояния, при которых проводятся испытания. Документ также предоставляет информацию о предварительной подготовке образцов и требований к оборудованию для проведения испытаний, что является критически важным для достижения достоверных результатов.
Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, лаборатории, занимающиеся тестированием и контролем качества, а также регулирующие органы, следящие за стандартами безопасности и качества. Использование данного стандарта позволяет улучшить процесс разработки и производства, гарантируя соответствие высоким требованиям к надежности и безопасности продукции.
Практическое значение стандарта заключается в его способности усиливать безопасность производимых компонентов, повышая качество и совместимость с существующими системами. Он служит важным инструментом для минимизации рисков, связанных с нарушением функционирования устройств в различных условиях, что в конечном итоге влияет на работу более сложных систем, в которых они используются.
Изменения или дополнения в документе по сравнению с предыдущими версиями включают уточнение критериев испытаний и расширение перечня условий, в которых должны проводиться тесты. Это позволяет удовлетворить растущие требования между отраслями, обеспечивая лучшую оценку рисков и установление более четких спецификаций для полупроводниковых приборов.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
BS EN IEC 60749-18-2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
BS EN IEC 60749-17-2019 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 17: Neutron irradiation
BS EN IEC 60749-15-2020 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
BS EN IEC 60749-26-2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
IEC 60749-28-2022 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
BS EN IEC 60749-30-2020 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing