Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN IEC 60749-26-2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний Часть 26: Испытания на чувствительность к статическому электричеству (ESD) - Модель человеческого тела (HBM)

Название документа
BS EN IEC 60749-26-2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний Часть 26: Испытания на чувствительность к статическому электричеству (ESD) - Модель человеческого тела (HBM)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN IEC 60749-26-2018» предназначен для регулирования испытаний чувствительности полупроводниковых приборов к электростатическому разряду (ESD) с использованием модели человеческого тела (HBM). В его рамках устанавливаются стандарты и методики, применяемые для оценки устойчивости электронных компонентов к электростатическим разрядам, которые могут возникать в процессе эксплуатации или хранения.

Стандарт описывает конкретные методы испытаний, параметры и требования, которые необходимо соблюдать для обеспечения корректного проведения тестов. Важными аспектами являются условия тестирования, такие как уровень напряжения и характер разряда, а также классификации компонентов в зависимости от их чувствительности к электростатическим воздействиям.

Технические детали, включая измеряемые величины, такие как ток и напряжение разряда, определяют возможность ранжирования устройств по их устойчивости. Эти параметры важны для производителей, чтобы гарантировать высокое качество и надежность своей продукции, а также для лабораторий, занимающихся испытаниями и сертификацией компонентов.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, которым важно обеспечить соблюдение норм безопасности и качества продукции. Стандарт также является важным инструментом для поддержания совместимости между различными электронными устройствами.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и долговечность электронных компонентов, что, в свою очередь, способствует улучшению условий труда и снижению рисков, связанных с электростатическими разрядами. Обеспечение соблюдения данных норм важно для минимизации потенциальных повреждений в процессе эксплуатации устройств.

Изменения в данном стандарте могут касаться уточнения методов испытаний или адаптации к новейшим технологиям. В частности, внимание уделяется внедрению новых методик, которые менее трудоемки и позволяют более точно определять уровень чувствительности компонентов к электростатическим воздействиям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS EN IEC 60749-20-2020 PDF BS EN IEC 60749-18-2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 18: Ионизирующее излучение (общая доза) PDF BS EN IEC 60749-17-2019 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 17: Neutron irradiation Полупроводниковые устройства Механические и климатические методы испытаний Часть 17: Ионизирующее излучение нейтронами PDF IEC 60749-28-2022 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 28: Испытания на чувствительность к статическому электричеству (ESD) - Модель заряженного устройства (CDM) - уровень устройства PDF BS EN IEC 60749-30-2020 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing Полупроводниковые устройства — Методы механических и климатических испытаний Часть 30: Предварительная обработка негерметичных поверхностно монтируемых устройств перед испытаниями на надежность PDF BS EN IEC 60749-39-2022 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components Полупроводниковые устройства — Методы механических и климатических испытаний Часть 39: Измерение диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для компонентов полупроводниковых устройств