Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 60749-28-2022 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
Документ «IEC 60749-28-2022» охватывает методы механических и климатических испытаний полупроводниковых устройств, с фокусом на испытания чувствительности к электростатическим разрядам (ЭСД) с использованием модели зарядного устройства (CDM) на уровне устройства. Основная цель стандарта — обеспечить единые требования к тестированию ЭСД, что особенно важно в производстве и эксплуатации полупроводниковых устройств в различных условиях.
Стандарт регламентирует методы проведения испытаний, параметры испытательных условий, а также требования к оборудованию и измерительным системам. Описаны процедуры тестирования, включая детализированные шаги, которые необходимо выполнить для корректной оценки ЭСД чувствительности устройств, а также параметры, которые должны учитываться, такие как уровень зарядного напряжения и режимы тестирования.
Важные технические детали включают условия, при которых проводятся испытания, классификацию устройств по поводу устойчивости к ЭСД, а также измеряемые величины, чтобы обеспечить ясность в интерпретации результатов. Установлены конкретные критерии, которые позволяют оценивать устройства по их чувствительности и прочности к электростатическим разрядам.
Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводников, лаборатории, ответственные за тестирование и сертификацию, а также регулирующие органы, которые следят за соблюдением стандартов качества и безопасности. Эти участники играют ключевую роль в обеспечении надежности и безопасности электронных компонентов в конечных продуктах.
Практическое значение стандарта заключается в его воздействии на безопасность, качество, охрану труда и совместимость полупроводниковых устройств. Стандарт способствует снижению рисков, связанных с ЭСД, тем самым повышая надёжность устройств и продлевая срок их службы. В недавнем обновлении документа добавлены уточнения по методам тестирования, что улучшает ясность и эффективность применения стандарта.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
BS EN IEC 60749-26-2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
BS EN IEC 60749-20-2020
BS EN IEC 60749-18-2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
BS EN IEC 60749-30-2020 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
BS EN IEC 60749-39-2022 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
IEC 60749-41-2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices