Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN IEC 60749-39-2022 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components Полупроводниковые устройства — Методы механических и климатических испытаний Часть 39: Измерение диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для компонентов полупроводниковых устройств

Название документа
BS EN IEC 60749-39-2022 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components Полупроводниковые устройства — Методы механических и климатических испытаний Часть 39: Измерение диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для компонентов полупроводниковых устройств
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN IEC 60749-39-2022» представляет собой стандарт, посвящённый механическим и климатическим испытаниям полупроводниковых устройств. Он направлен на оценку свойств органических материалов, используемых в полупроводниковых компонентах, с акцентом на измерение диффузии влаги и растворимости воды. Стандарт имеет широкое применение в области разработки и производства полупроводниковых устройств, обеспечивая единую методологию для оценки характеристик материалов.

Ключевыми аспектами документа являются определение методов измерения влагопроницаемости и водорастворимости, а также установление параметров испытаний, которые необходимы для достоверной оценки материалов. В стандарт включаются конкретные процедуры подготовки образцов, условия проведения испытаний и статистические методы анализа результатов. Это позволяет обеспечить согласованность и воспроизводимость результатов испытаний.

Некоторые важные технические детали включают в себя условия испытаний, такие как температура и влажность, классификации материалов по их устойчивости к влаге, а также измеряемые величины, например, коэффициенты диффузии. Эти параметры имеют критическое значение для понимания поведения полупроводниковых компонентов в различных эксплуатационных условиях. Стандарт также рассматривает необходимость валидации методов, используемых для оценки свойств материалов.

Целевая аудитория стандарта включает в себя производителей полупроводниковых устройств, испытательные лаборатории, а также контролирующие и сертификационные органы. Ознакомление с содержанием данного документа позволит этим организациям обеспечить высокие стандарты качества и безопасности своей продукции. Стандарт необходим для формирования единого подхода к испытанию и оценке материалов, что в итоге способствует улучшению эксплуатационных характеристик устройств.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых компонентов. Применение технологий, предусмотренных стандартом, способствует снижению рисков, связанных с эксплуатацией устройств и обеспечению гармонизации требований к материалам на международном уровне. В документе также уделяется внимание обновлениям и дополнениям, направленным на улучшение процедуры испытаний и адаптацию к новым технологическим вызовам, что добавляет актуальности его применению в современной индустрии.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS EN IEC 60749-30-2020 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing Полупроводниковые устройства — Методы механических и климатических испытаний Часть 30: Предварительная обработка негерметичных поверхностно монтируемых устройств перед испытаниями на надежность PDF IEC 60749-28-2022 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 28: Испытания на чувствительность к статическому электричеству (ESD) - Модель заряженного устройства (CDM) - уровень устройства PDF BS EN IEC 60749-26-2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний Часть 26: Испытания на чувствительность к статическому электричеству (ESD) - Модель человеческого тела (HBM) PDF IEC 60749-41-2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 41: Стандартные методы испытаний надежности непротивовосстановительных памяти устройств PDF IEC 60751-2022 Industrial platinum resistance thermometers and platinum temperature sensors Промышленные термометры сопротивления платины и датчики температуры из платины PDF BS EN IEC 60754-3-2019 Test on gases evolved during combustion of materials from cables Part 3: Measurement of low level of halogen content by ion chromatography Испытания газов, выделяемых при сгорании материалов из кабелей Часть 3: Измерение низкого уровня содержания галогенов методом ионной хроматографии