495963637 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62047-42-2022 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 42: Методы измерения электромеханических характеристик пьезоэлектрических МЭМС микромостов

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62047-42-2022 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 42: Методы измерения электромеханических характеристик пьезоэлектрических МЭМС микромостов
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62047-42-2022» устанавливает методы измерения электромеханических характеристик пьезоэлектрических MEMS кантилеверов, что имеет ключевое значение для разработчиков полупроводниковых устройств. Основная цель стандарта заключается в обеспечении единых требований к методам измерений, что способствует улучшению качества продукции и повышению её безопасности. Этот стандарт применяется в областях, связанных с проектированием, производством и тестированием микромеханических систем, ориентированных на применение пьезоэлектрических технологий.

Ключевые регламентируемые аспекты документа включают стандартизированные методы испытаний, параметры измерений и требования к оборудованию. Стандарт описывает необходимые условия испытаний, включая температурные и влажностные режимы, а также спецификации к измеряемым величинам, таким как напряжение и перемещение. Все это позволяет обеспечить воспроизводимость результатов и сопоставимость данных, получаемых различными лабораториями и производителями.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей MEMS, исследовательские лаборатории, а также органы контроля и сертификации. Производители смогут использовать данный документ для улучшения своих технологий, а лаборатории получат ясные руководящие принципы для проведения испытаний и сертификации продукции. Контролирующие органы смогут использовать стандарт в качестве основы для оценки соответствия изделий установленным требованиям качества и безопасности.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и надежность продукции, а также на повышение уровня охраны труда при эксплуатации пьезоэлектрических микросистем. Стандарт способствует улучшению совместимости изделий, что, в свою очередь, влияет на долгосрочную эффективность и надёжность использования MEMS в различных приложениях. Исходя из актуальных вызовов и технологических трендов, в документе могут быть отражены изменения, касающиеся новых методов испытаний или уточнения существующих, что позволяет документу оставаться актуальным и отвечать современным требованиям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62047-41-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 41: Радиочастотные MEMS-циркуляторы и изоляторы PDF IEC 62047-40-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 40: Методы тестирования порога микроразрядных инерционных МЭМС-переключателей PDF IEC 62047-38-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 38: Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 38: Метод испытания на сцепление металлической пасты в соединениях MEMS PDF IEC 62050-2005 VHDL Register Transfer Level (RTL) synthesis Синтез на уровне регистров (RTL) в языке VHDL PDF IEC 62055-41-2018 Electricity metering - Payment systems - Part 41: Standard transfer specification (STS) - Application layer protocol for one-way token carrier systems Измерение электроэнергии - Системы оплаты - Часть 41: Стандартный спецификационный формат передачи (STS) - Протокол прикладного уровня для односторонних систем носителей токенов PDF IEC 62104-2015 Characteristics of DAB Receivers Характеристики приемников DAB