495963635 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62047-41-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 41: Радиочастотные MEMS-циркуляторы и изоляторы

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62047-41-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 41: Радиочастотные MEMS-циркуляторы и изоляторы
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62047-41-2021» представляет собой стандарт, посвящённый полупроводниковым устройствам, в частности, микроэлектромеханическим системам (MEMS). Он охватывает циркуляторы и изоляторы на основе радиочастотных технологий, определяя их основные характеристики и область применения. Данный стандарт является важным для производителей, исследовательских лабораторий и органов контроля, задействованных в разработке и тестировании радиочастотных MEMS-устройств.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми в стандарте, являются методы испытаний, параметры работы и требования к функциональности устройств. Стандарт конкретизирует процедуры измерения и классификацию циркуляторов и изоляторов, уделяя внимание критериям, обеспечивающим их надёжность и эффективность. В частности, описаны методики, позволяющие оценивать характеристики передачи и изоляции сигналов в параметрах, критически важных для функционирования радиосистем.

Важные технические детали включают условия испытаний, такие как диапазон частот, температурные режимы и уровень напряжения, при которых проводятся испытания устройств. На основании этих условий стандартом также определяются измеряемые величины, что позволяет обеспечить высокую степень точности и воспроизводимости результатов. Это имеет значительное значение для обеспечения стандартов качества в проектировании и производстве MEMS-устройств.

Целевая аудитория данного документа включает производителей полупроводников, исследовательские лаборатории, а также регулирующие органы, занимающиеся контролем качества и безопасностью. Информация, содержащаяся в стандарте, представляет собой важный ресурс для всех заинтересованных сторон, что способствуют повышению общего уровня безопасности и качества в области разработки и внедрения таких технологий.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость MEMS-устройств. Осуществляя контроль за параметрами и процедурами, предусмотренными стандартом, организаторы производства могут существенно снизить риски, связанные с несоответствием этих устройств установленным требованиям. Если в документе имеются изменения или дополнения, они касаются обновления методов испытаний и уточнения параметров, что позволяет лучше соответствовать современным требованиям отрасли.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62047-40-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 40: Методы тестирования порога микроразрядных инерционных МЭМС-переключателей PDF IEC 62047-38-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 38: Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 38: Метод испытания на сцепление металлической пасты в соединениях MEMS PDF BS IEC 62047-36-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 36: Методы испытаний на воздействие окружающей среды и электрическую прочность для пьезоэлектрических тонких пленок MEMS PDF IEC 62047-42-2022 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 42: Методы измерения электромеханических характеристик пьезоэлектрических МЭМС микромостов PDF IEC 62050-2005 VHDL Register Transfer Level (RTL) synthesis Синтез на уровне регистров (RTL) в языке VHDL PDF IEC 62055-41-2018 Electricity metering - Payment systems - Part 41: Standard transfer specification (STS) - Application layer protocol for one-way token carrier systems Измерение электроэнергии - Системы оплаты - Часть 41: Стандартный спецификационный формат передачи (STS) - Протокол прикладного уровня для односторонних систем носителей токенов