495963983 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS IEC 62951-2-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices Part 2: Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing, and threshold voltage of flexible device Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства Часть 2: Метод оценки подвижности электронов, подпорогового спада и порогового напряжения гибких устройств

Загрузка документа...
Название документа
BS IEC 62951-2-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices Part 2: Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing, and threshold voltage of flexible device Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства Часть 2: Метод оценки подвижности электронов, подпорогового спада и порогового напряжения гибких устройств
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS IEC 62951-2-2019» определяет методы оценки подвижности электронов, подпорогового наклона и порогового напряжения для гибких и растяжимых полупроводниковых устройств. Основное назначение данного стандарта заключается в установлении единых требований и методов испытаний для глубокой оценки характеристик таких устройств в различных условиях эксплуатации. Это необходимо для обеспечения их надежности и долговечности при различных механических нагрузках.

В документе регламентируются ключевые аспекты оценки, включая использование специфических методов испытаний для определения подвижности носителей заряда, значений подфотографического наклона и порогового напряжения. Параметры, которые должны быть учтены при испытаниях, включают температуру окружающей среды, используемые материалы и геометрию анализируемых устройств, что позволяет обеспечить воспроизводимость результатов и их сопоставимость.

К числу важных технических деталей относятся установленные условия испытаний, такие как температурный диапазон, скорость растяжения и предельные значения механических напряжений. Измеряемые величины играют ключевую роль в оценке качества и производительности гибких полупроводниковых устройств. Также в стандарте указаны требования к используемому оборудованию и методам измерений для достижения точных и надежных результатов.

Целевой аудиторией данного стандарта являются производители гибких полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся обеспечением качества и безопасности таких технологий. Стандарт служит основой для разработок новых продуктов и технологий, предоставляя четкие ориентиры для всех заинтересованных сторон.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и эффективное использование гибких полупроводниковых устройств в различных приложениях, включая электронику, носимую технику и медицинские устройства. Он обеспечивает комплексный подход к оценке важных параметров, влияющих на эксплуатационные характеристики, что в свою очередь содействует повышению уровня защищенности и удовлетворенности пользователей.

Стандарт включает внесенные изменения и дополнения, которые касаются уточнения методов измерений и расширения перечня регламентируемых параметров. Это позволяет более точно охарактеризовать современные гибкие и растяжимые технологии и обеспечивает соответствие актуальным требованиям рынка и технологическому прогрессу.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62951-1-2017 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates Полупроводниковые устройства – Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства – Часть 1: Метод испытаний изгиба для проводящих тонких пленок на гибких субстратах PDF BS IEC 62946-02-2017 Connectors for electronic equipment Part 02: Detail specification for 8-way, unshielded, free and fixed high density connectors for data transmission with frequencies up to 250 MHz and with current carrying capacity up to 1 A Гнезда для электронного оборудования Часть 02: Детальная спецификация для 8-ходовых, не экранированных, свободных и закрепленных высокой плотности гнезд для передачи данных с частотами до 250 МГц и с номинальным током до 1 А PDF BS IEC 62946-01-2018 Connectors for electrical and electronic equipment Part 01: Rectangular connectors - Detail specification for 8-way, shielded, free and fixed high density connectors for data transmission with frequencies up to 100 MHz and with curren Гнезда для электрического и электронного оборудования Часть 01: Прямоугольные гнезда - Детальная спецификация для 8-контактных, экранированных, свободных и закрепленных высокой плотности гнезд для передачи данных с частотами до 100 МГц и с током PDF BS IEC 62951-3-2018 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства Часть 3: Оценка характеристик тонкопленочного транзистора на гибких субстратах при деформации PDF BS IEC 62951-4-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices Part 4: Fatigue evaluation for flexible conductive thin film on the substrate for flexible semiconductor devices Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства Часть 4: Оценка усталости гибкого проводящего тонкого слоя на субстрате для гибких полупроводниковых устройств PDF BS IEC 62951-5-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible materials Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства Часть 5: Метод испытаний для термических характеристик гибких материалов