495963989 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS IEC 62951-5-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible materials Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства Часть 5: Метод испытаний для термических характеристик гибких материалов

Загрузка документа...
Название документа
BS IEC 62951-5-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible materials Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства Часть 5: Метод испытаний для термических характеристик гибких материалов
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS IEC 62951-5-2019» предназначен для установки методов испытаний термических характеристик гибких и растяжимых полупроводниковых материалов. Он является частью международной серии стандартов, охватывающей требования к различным типам полупроводниковых устройств, которые находят применение в современных электронике и технологиях. Основное назначение данного стандарта — обеспечить единые критерии для оценки термических свойств материалов, используемых в гибкой электронике.

Ключевыми аспектами стандарта являются определение методов испытаний, а также параметры, которые должны быть соблюдены в процессе тестирования. Документ устанавливает необходимые процедуры для измерения термальных характеристик, таких как теплопроводность и способность материалов к термическому расширению. Важные требования также касаются условий, при которых проводятся испытания, чтобы обеспечить воспроизводимость и точность результатов.

К техническим деталям, представленным в стандарте, относятся классификации типов материалов, а также измеряемые величины, такие как температура и время испытаний. Специфика испытаний включает как статику, так и динамику температурных изменений, что гарантирует репрезентативность данных для различных условий эксплуатации. Так, соблюдение описанных требований позволяет обеспечить надежность результатов тестирования и их применение в промышленности.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей гибкой электроники, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, которые занимаются качеством материалов. Понимание этого документа способствует реализации поддерживающих стандартов в процессе разработки и производства новых материалов и технологий. Таким образом, стандарт обеспечивает единый подход к оценке термических свойств, что значительно облегчает сотрудничество между всеми участниками производственного процесса.

Практическое значение данного стандарта заключается в повышении уровня безопасности и качества продукции. Соответствие требованиям стандарта помогает предотвратить потенциальные риски, связанные с неправильным использованием гибких полупроводниковых материалов, и гарантирует их совместимость с другими компонентами. Изменения и дополнения, внесенные в документ, направлены на улучшение методов испытаний и расширение диапазона применимых материалов, что усиливает его актуальность в условиях быстрого технологического прогресса.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS IEC 62951-4-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices Part 4: Fatigue evaluation for flexible conductive thin film on the substrate for flexible semiconductor devices Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства Часть 4: Оценка усталости гибкого проводящего тонкого слоя на субстрате для гибких полупроводниковых устройств PDF BS IEC 62951-3-2018 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства Часть 3: Оценка характеристик тонкопленочного транзистора на гибких субстратах при деформации PDF BS IEC 62951-2-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices Part 2: Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing, and threshold voltage of flexible device Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства Часть 2: Метод оценки подвижности электронов, подпорогового спада и порогового напряжения гибких устройств PDF BS IEC 62951-6-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films Полупроводниковые устройства – Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства Часть 6: Метод испытаний для сопротивления листа гибких проводящих пленок PDF BS IEC 62951-7-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices Part 7: Test method for characterizing the barrier performance of thin film encapsulation for flexible organic semiconductor Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства Часть 7: Метод испытаний для характеристики барьерной производительности тонкой пленки упаковки для гибких органических полупроводников PDF IEC 62951-9-2022 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 9: Методы испытаний характеристик однотранзисторного и однорезисторного (1T1R) резистивных ячеек памяти