Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60191-2X-1999 Twenty-second supplement to Publication 60191-2 (1966) Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 2: Dimensions Двадцать второе дополнение к публикации 60191-2 (1966) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 2: Размеры

Название документа
IEC 60191-2X-1999 Twenty-second supplement to Publication 60191-2 (1966) Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 2: Dimensions Двадцать второе дополнение к публикации 60191-2 (1966) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 2: Размеры
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60191-2X-1999» представляет собой двадцать второй дополнение к публикации 60191, касающейся механической стандартизации полупроводниковых устройств. Основное назначение данного стандарта заключается в определении размеров и методов испытаний, используемых для обеспечения совместимости в производстве полупроводниковых устройств. Стандарт находит применение в сфере разработок, сертификации и тестирования различных полупроводниковых компонентов, таких как интегральные схемы и датчики.

Ключевые регламентируемые аспекты, изложенные в документе, включают методы измерений, которые применяются для оценки геометрических параметров полупроводниковых компонентов. Особое внимание уделяется требованиям к точности и воспроизводимости измерений, что является критически важным для обеспечения качества продукции. В стандарт также включены указания по условиям испытаний, что позволяет гарантировать надёжность получаемых данных.

Среди важных технических деталей можно выделить классификации, относящиеся к различным типам полупроводниковых устройств, а также измеряемые величины для оценки функциональных характеристик. Документ также определяет контрольные параметры для тестирования и квалификации устройств, что позволяет производителям соответствовать современным требованиям отрасли. Эти требования способствуют улучшению стандартов безопасности и качества, влияя на весь процесс разработки.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых компонентов, лаборатории, занимающиеся тестированием и сертификацией, а также контролирующие органы, отвечающие за соблюдение установленных норм. Стандарт служит важным ориентиром для всех участников процесса, обеспечивая единые критерии и подходы к оценке качества полупроводниковых устройств.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых компонентов. Соблюдение требований, изложенных в документе, позволяет уменьшить риски, связанные с эксплуатацией устройств, а также повысить их надёжность. Внедрение стандартов механической стандартизации актуально на современных производственных мощностях, где высокие требования к качеству продукции являются критическими.

Изменения и дополнения, представленные в данном дополнении, касаются обновлённых методов измерений и уточнённых требований к тестированию. Это отражает современные тенденции и нагрузки, с которыми сталкиваются полупроводники в условиях эксплуатации, что несомненно повышает ценность документа для профессионального сообщества.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60191-2X-1999 Cor1-2000 IEC 60191-2X-1999 Cor1-2000 PDF IEC 60191-2W-1999 Twenty-first supplement to Publication 60191-2 (1966) Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 2: Dimensions Двадцать первое дополнение к публикации 60191-2 (1966) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 2: Размеры PDF IEC 60191-2V-1998 Twentieth supplement to Publication 60191 -2 (1966) Mechanical standardization of semiconductor devices Part 2: Dimensions Двадцатое дополнение к публикации 60191 -2 (1966) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств Часть 2: Размеры PDF IEC 60191-2Y-2000 Twenty-third supplement - Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions Двадцать третье дополнение - Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 2: Размеры PDF IEC 60191-2Z-2000 Twenty-fourth supplement to Publication 60191-2 (1966) Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 2: Dimensions Двадцать четвертый дополнение к публикации 60191-2 (1966) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 2: Размеры PDF IEC 60191-3-1999 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 3: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Integrated Circuits Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 3: Общие правила подготовки чертежей обводов интегральных схем