Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60191-2Y-2000 Twenty-third supplement - Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions Двадцать третье дополнение - Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 2: Размеры

Название документа
IEC 60191-2Y-2000 Twenty-third supplement - Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions Двадцать третье дополнение - Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 2: Размеры
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60191-2Y-2000 Twenty-third supplement» является дополнением к международному стандарту, касающемуся механической стандартизации полупроводниковых устройств, и в частности, содержит требования к размерам данных устройств. Он применяется в производственной сфере, охватывая области проектирования, тестирования и производства полупроводниковых компонентов, таких как интегральные схемы и другие электронные устройства.

Ключевые аспекты, описанные в документе, включают методы определения размеров, параметры механической прочности и требования к монтажу полупроводниковых устройств. Он регламентирует процедуры испытаний, направленные на обеспечение долговечности и надёжности компонентов, а также предоставляет методики для измерения функциональных характеристик изделия, что важно для достижения требуемых стандартов качества.

Важные технические детали документа касаются условий испытаний, таких как температура и влажность, а также классификации полупроводников по различным параметрам, что способствует однородности и совместимости устройств. Измеряемые величины включают механические и электрические характеристики, что позволяет лабораториям и производителям точно оценивать производительность устройств и их соответствие установленным стандартам.

Целевая аудитория этого стандарта включает производителей полупроводников, научные лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся проверкой качества продукции. Стандарт служит ориентиром для предприятий, обеспечивая критерии, которые необходимо соблюдать для успешного выхода на рынок и соответствия мировым требованиям.

Практическое значение стандарта заключается в его воздействии на безопасность и качество полупроводниковых устройств, а также в улучшении охраны труда за счёт установления требований к безопасной эксплуатации. Он также учитывает совместимость с другими стандартами, что способствует упрощению процесса интеграции различных компонентов в электронные системы. В данном дополнении отмечаются изменения, которые касаются уточнения требований и методов испытаний, что способствует большей ясности для пользователей и производственных процессов в целом.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60191-2X-1999 Twenty-second supplement to Publication 60191-2 (1966) Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 2: Dimensions Двадцать второе дополнение к публикации 60191-2 (1966) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 2: Размеры PDF IEC 60191-2X-1999 Cor1-2000 IEC 60191-2X-1999 Cor1-2000 PDF IEC 60191-2W-1999 Twenty-first supplement to Publication 60191-2 (1966) Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 2: Dimensions Двадцать первое дополнение к публикации 60191-2 (1966) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 2: Размеры PDF IEC 60191-2Z-2000 Twenty-fourth supplement to Publication 60191-2 (1966) Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 2: Dimensions Двадцать четвертый дополнение к публикации 60191-2 (1966) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 2: Размеры PDF IEC 60191-3-1999 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 3: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Integrated Circuits Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 3: Общие правила подготовки чертежей обводов интегральных схем PDF IEC 60191-4-2018