Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60191-6-4-2003 Mechanical standardization of semiconductor devices Part 6-4: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Measuring methods for package dimensions of ball grid array (BGA) - Механическая стандартизация полупроводниковых устройств Часть 6-4: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств Методы измерения размеров корпусов с сеткой контактов (BGA) –

Название документа
IEC 60191-6-4-2003 Mechanical standardization of semiconductor devices Part 6-4: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Measuring methods for package dimensions of ball grid array (BGA) - Механическая стандартизация полупроводниковых устройств Часть 6-4: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств Методы измерения размеров корпусов с сеткой контактов (BGA) –
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ IEC 60191-6-4-2003 определяет общие правила подготовки чертежей для упаковок полупроводниковых устройств, в частности, для упаковок Ball Grid Array (BGA). Этот стандарт применяется в сферах проектирования и производством полупроводниковых устройств, обеспечивая единообразие в технической документации и улучшая процессы взаимодействия между производителями и потребителями полупроводниковых компонентов.

Ключевыми аспектами, рассмотренными в стандарте, являются методы измерения и параметры, связанные с размерами упаковок BGA. Документ разъясняет требования к спецификациям упаковки, включая допустимые отклонения, а также параметры, которые должны быть указаны на чертежах, что способствует точному производству и гарантирует соответствие изделиям установленным характеристикам.

Технические детали, изложенные в стандарте, охватывают условия испытаний и методы классификации размеров упаковок, что важно для контроля качества. В документе представлены измеряемые величины, такие как размеры площадок со сплавами и расстояния между ними, что позволяет точно определять соответствие упаковки необходимым требованиям и стандартам.

Целевой аудиторией стандарта являются производители полупроводников, лаборатории и контролирующие органы, работающие в области электроники. Стандарт предоставляет этическую и техническую основу для оценки качества упаковок, что важно для уверенности потребителей в безопасности и надежности используемых компонентов.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых устройств. Нормы, прописанные в документе, способствуют улучшению условий труда и совместимости компонентов, что в свою очередь положительно сказывается на устойчивости и производительности электронных устройств. В случае наличия изменений или дополнений, такие обновления обеспечивают актуальность документации в условиях быстро меняющегося технологического окружения.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60191-6-3-2000 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-3: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Measuring Methods for Package Dimensions of Quad Flat Packs (QFP) - Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-3: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Методы измерения размеров корпусов квадратных плоских корпусов (QFP) – PDF IEC 60191-6-22-2012 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-22: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guide for semiconductor packages Silicon Fine-pitch Ball G Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-22: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов полупроводниковых устройств с мелким шагом сетки контактов (Si Fine-pitch Ball G) PDF IEC 60191-6-21-2010 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-21: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Measuring methods for package dimensions of small outline package Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-21: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Методы измерения размеров корпусов малых корпусов PDF IEC 60191-6-5-2001 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-5: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Design Guide for Fine Pitch-Pitch Ball Grid Array (FBGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-5: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с мелким шагом сетки контактов (FBGA) PDF IEC 60191-6-6-2001 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-6: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Design Guide for Fine Pitch Land Grid Array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-6: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с мелким шагом сетки контактов (FLGA) PDF IEC 60191-6-8-2001 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-8: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Design Guide for Glass Sealed Ceramic Quad Flatpack (G-QFP) - Editi Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-8: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с закрытым стеклом керамического квадратного плоского корпуса (G-QFP) – Редакция